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ESD試驗方法和標(biāo)準(zhǔn)

文件來源:中國賽寶實驗室
文件類型:pdf
更新時間:2011-08-25
文件大小:1702K

【本資料來自第八屆電路保護與電磁兼容技術(shù)研討會】
演講嘉賓:中國賽寶實驗室高級工程師 來萍
內(nèi)容介紹:無論是集成電路、PCBA還是電子設(shè)備裝置,在進行ESD防護設(shè)計的前后都需要對產(chǎn)品進行ESD試驗,以確認產(chǎn)品的抗ESD能力以及防護設(shè)計是否達到預(yù)期的水平。本文檔從靜電試驗的目的和意義、元器件ESD試驗方法和標(biāo)準(zhǔn)、電子設(shè)備ESD試驗方法和標(biāo)準(zhǔn)、試驗方法對比等幾個方面出發(fā),介紹如何對產(chǎn)品進行ESD試驗評估以及相關(guān)的國內(nèi)外主流標(biāo)準(zhǔn)和及其試驗內(nèi)容,并對比闡述電子元器件和電子設(shè)備的ESD試驗方法各自的特點。
本文鏈接:http://www.yonglehk.com/test-dl/673
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