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【“源”察秋毫系列】Keithley 在基于鈣鈦礦體系的粒子射線探測(cè)中的應(yīng)用
電離輻射如x射線和γ射線已被廣泛研究和應(yīng)用于醫(yī)學(xué)成像、射線無(wú)損檢測(cè)、科學(xué)研究等各個(gè)領(lǐng)域。因此，用高靈敏度和低成本的材料和設(shè)備來(lái)檢測(cè)這種高能輻射是非常重要的。鹵化物鈣鈦礦與商業(yè)硅(Si)和非晶硒(a-Se)相比，具有光吸收系數(shù)大、電阻率大、漏電流小、遷移率高、合成和加工簡(jiǎn)單等優(yōu)點(diǎn)，成為輻射...
2024-11-13
Keithley 鈣鈦礦體系 粒子射線
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使用DMA在低功耗可穿戴設(shè)備中加快外設(shè)監(jiān)測(cè)
嵌入式系統(tǒng)執(zhí)行的一個(gè)常見任務(wù)是管理外部輸入。管理輸入會(huì)給處理器帶來(lái)很多不必要的計(jì)算壓力，導(dǎo)致處理器處于有功功率模式下的時(shí)間更長(zhǎng)，響應(yīng)速度更慢。為了優(yōu)化功率，保持對(duì)事件的快速響應(yīng)以及管理大量數(shù)據(jù)連續(xù)傳輸，具有直接內(nèi)存訪問(wèn)(DMA)的微控制器可提供更好的解決方案。
2024-11-13
DMA 可穿戴設(shè)備 外設(shè)監(jiān)測(cè)
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安森美推出業(yè)界領(lǐng)先的模擬和混合信號(hào)平臺(tái)
安森美宣布推出 Treo 平臺(tái)，這是一個(gè)采用先進(jìn)的 65nm 節(jié)點(diǎn)的BCD（Bipolar–CMOS -DMOS）工藝技術(shù)構(gòu)建的模擬和混合信號(hào)平臺(tái)。 該平臺(tái)為安森美廣泛的電源和感知解決方案奠定了強(qiáng)大的基礎(chǔ)，包括高性能和低功耗感知、高效電源管理和專用通信器件。利用該可擴(kuò)展的單一解決方案，客戶可以簡(jiǎn)化和加快現(xiàn)有應(yīng)...
2024-11-13
安森美 模擬 混合信號(hào) 平臺(tái)
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STM32 MPU是什么產(chǎn)品？了解嵌入式系統(tǒng)中微處理器的新變化
微控制器 (MCU)和微處理器(MPU)有哪些不同之處？簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)，兩者都是嵌入式系統(tǒng)的大腦。幾年前，兩者之間有非常明顯的區(qū)別，功能截然不同，對(duì)開發(fā)者的研發(fā)技能要求也大不相同。如今，這兩個(gè)術(shù)語(yǔ)仍然存在，但創(chuàng)新使得兩者之間的分界線日趨模糊。以前只用 MCU 的系統(tǒng)集成商現(xiàn)在發(fā)現(xiàn)，用MPU更容易，ST也...
2024-11-13
STM32 MPU 嵌入式系統(tǒng) 微處理器
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AMD 宣布推出第二代 Versal Premium 系列，滿足數(shù)據(jù)密集型工作負(fù)載需求
2024 年 11 月 12 日，加利福尼亞州圣克拉拉——AMD（超威，納斯達(dá)克股票代碼：AMD）今日宣布推出第二代 AMD Versal? Premium 系列，這款自適應(yīng) SoC 平臺(tái)旨在面向各種工作負(fù)載提供最高水平系統(tǒng)加速。第二代 Versal Premium 系列將成為 FPGA 行業(yè)首款在硬 IP 中采用 Compute Express Link （CXL?）3.1①...
2024-11-13
Versal Premium
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泰克推出突破性功率測(cè)量工具，從容應(yīng)對(duì)全球電氣化加速創(chuàng)新步伐
新產(chǎn)品系列包括業(yè)界領(lǐng)先的射頻隔離電流探頭和三通道雙向電源。
2024-11-13
泰克
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采用能量收集技術(shù)為嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)永續(xù)供電
許多無(wú)法連接市電的嵌入式系統(tǒng)通常會(huì)采用電池供電，但當(dāng)電池電量用完時(shí)，更換電池的維護(hù)成本相對(duì)較高，并造成相當(dāng)多的困擾，若能通過(guò)能量收集技術(shù)來(lái)為系統(tǒng)永續(xù)供電，便可解決這個(gè)問(wèn)題。本文將為您介紹如何利用能量收集技術(shù)來(lái)建立永久運(yùn)行的嵌入式系統(tǒng)，以及由Silicon Labs（芯科科技）推出的相關(guān)解...
2024-11-12
能量收集技術(shù) 嵌入式系統(tǒng) 供電
- 【“源”察秋毫系列】下一代半導(dǎo)體氧化鎵器件光電探測(cè)器應(yīng)用與測(cè)試
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