反激式轉(zhuǎn)換器在CCM
帶有漏電感的反激式轉(zhuǎn)換器硬件說明
發(fā)布時間:2021-03-19 來源:Christophe Basso 責(zé)任編輯:wenwei
【導(dǎo)讀】反激式轉(zhuǎn)換器工作于電壓模式控制(VM)的頻率響應(yīng)和在連續(xù)導(dǎo)電模式(CCM)下的驅(qū)動是次級命令系統(tǒng)。如果大多分析預(yù)示傳遞函數(shù)的品質(zhì)因數(shù)只受各種損耗(歐姆路徑、磁損耗、恢復(fù)時間相關(guān)損耗等)影響,那么由漏電感帶來的阻尼效應(yīng)非常小。但瞬態(tài)仿真預(yù)示輸出阻尼隨漏電感增加而振蕩。由于現(xiàn)有文獻中的公式?jīng)]有反映出這影響,有必要采用新的模型,本文將作說明。
反激式轉(zhuǎn)換器在CCM
一個理想的CCM反激式轉(zhuǎn)換器在兩個工作周期傳輸功率:
1)導(dǎo)通時間ton,在此期間初級端電源開關(guān)SW關(guān)閉,能量聚集在變壓器初級電感Lp
2)在關(guān)斷時間toff期間,開關(guān)打開,能量通過二極管D傳遞至次級端。然而,在檢查原型波形時,可分辨出比基本解釋描述更多的情況。圖1顯示一個采用變壓器的典型的轉(zhuǎn)換器受到漏電感l(wèi)leak的影響。當(dāng)電源開關(guān)關(guān)閉,在變壓器初級電感Lp施加輸入電壓,開關(guān)歐姆損耗忽略不計。仔細看這原理圖,這并不是精確的Vin,因為Lp和lleak分去了一部分電壓。因而此時Lp的電壓是
(1)
圖1:反激式轉(zhuǎn)換器工作狀態(tài)顯示當(dāng)電源開關(guān)打開時,能量儲存在初級端,隨后能量在次級端循環(huán)
在ton期間并考慮到耦合點,次級端二極管被阻斷。因為Lp和lleak串聯(lián),這些元件中的電流ip(t)循環(huán)增加,斜率為
(2)
當(dāng)控制器指示開關(guān)打開,我們跳轉(zhuǎn)到圖(b)。此時感應(yīng)電流發(fā)現(xiàn)集于漏極節(jié)點的電容中的一條通路。寄生參數(shù)由漏極端的MOSFET自身的非線性電容Crss和Coss ,加上鉗位二極管的各種不同電容、變壓器繞組間電容和反射到初級的輸出二極管電容組成。所有這些元素集總為接地參考電容,定義為Clump。當(dāng)電流流過Clump,漏源電壓迅速增加。由于MOSFET的非線性電容,斜率是不恒定的。但我們可說這電壓的斜率近似為
(3)
其中Ipeak是開關(guān)打開時的電流值。漏極電壓增加,直到Lp電壓反向。此時,如圖1c,次級二極管偏置但次級端還沒有電流流通。當(dāng)Lp和lleak都通電,產(chǎn)生電流到持續(xù)充電的集總電容。由于是串聯(lián),Lp和lleak的電流相等,流過次級二極管的凈電流為0。D開始導(dǎo)通的漏極電壓為
(4)
輸出電壓現(xiàn)在反激到Lp——因而稱為反激式轉(zhuǎn)換器——并產(chǎn)生向下的斜率為
(5)
漏極節(jié)點繼續(xù)增加,直到達到輸入電壓加鉗位電平Vclp。此時鉗位二極管導(dǎo)通,如圖2a所示。當(dāng)漏極節(jié)點電壓保持在Vin + Vclp,漏電流不再流過Clump而僅為Vclp。集總電容的電荷吸收漏電感能量,現(xiàn)在Vclp中循環(huán)的電流略小于最初的峰值初級電流。
圖2:當(dāng)集總電容被充電到Vin + Vclp,鉗位二極管導(dǎo)通。
當(dāng)開關(guān)打開具有峰值電流Ip1 ,存儲在電路中的總能量為
(6)
當(dāng)鉗位二極管開始導(dǎo)通,存儲在集總電容中的能量為
(7)
此時,存儲在電路中的能量現(xiàn)包括集總電容:
(8)
其中Ip2 是集總電容充電后的循環(huán)電流。式(6)中的能量數(shù)不變,只不過其中一部分已傳遞到Clump。因而,
(9)
重新整理
(10)
從這一表達式中解得Ip2 為
(11)
假定下列值
那么從(11)得出電流約976 mA或比打開開關(guān)時最初的1 A峰值電流減小2.4%。請注意,Clump是個高度非線性項,特別是在打開開關(guān)時的低電壓點。如果(11)是個近似的理論公式,平臺實驗證實當(dāng)二極管Dclp開始導(dǎo)通時在鉗位網(wǎng)絡(luò)中循環(huán)的電流更低。在漏極以額外的100-pF電容(1 kV用于離線應(yīng)用)增加電容,將進一步減小電流。這額外的電容通過緩沖漏極電壓有利于剩余電流裝置(RCD)鉗位溫度和減小關(guān)斷損耗。通過降低節(jié)點的dV/dt,EMI也將得以改善。但添加這電容可能會限制高線性導(dǎo)通損耗預(yù)算,如果開關(guān)頻率很高。必須折中考慮。
在這點上,漏電感電壓是固定的(忽略紋波):下部接線端保持在Vin + Vclp (忽略鉗位二極管下降),而上部接線端為Vin +( Vout+Vf )/N。因而施加到漏電感的電壓為Vclp-( Vout+Vf )/N 。漏電感的復(fù)位時間在此開始。(11)式定義的電流下降,斜率為
(12)
當(dāng)漏電感復(fù)位,次級端二極管電流id (t)以(12)式定義的斜率產(chǎn)生,但此時為正并按匝數(shù)比增加。當(dāng)漏電感完全耗盡,輸出二極管電流達到峰值(圖2b)。次級電流現(xiàn)在以(5)式定義的斜率減小。這下降斜率持續(xù)到開關(guān)再次打開。這是關(guān)斷時間說明toff。但輸出二極管電流不能立即返回到0。原因是需要時間激勵漏電感:其電流必須跳轉(zhuǎn)到初級電感仍然耦合到次級端。這是開關(guān)電流從0增加到谷底電流Iv的時間。當(dāng)ISW = Iv,,所有初級電流現(xiàn)流過電源開關(guān),次級端二極管阻斷。從這些信息中可推斷出兩個重要要點:
1.當(dāng)開關(guān)打開時,次級端二極管保持導(dǎo)通一段時間t1。這是漏電流從0增加到谷底電流Iv的時間。由于輸出二極管在這較短的時間內(nèi)一直導(dǎo)通,Lp退磁:漏電感延長次級二極管導(dǎo)通時間 。雖然開關(guān)關(guān)閉,初級電感斜率在漏電感電流達到谷底電流和整體流向地面前不會發(fā)生變化:占空比D減少d1。
2.當(dāng)開關(guān)SW打開,次級二極管凈電流為0,所有初級電流通過漏電感充電Clump分流。當(dāng)漏電感復(fù)位,次級電流上升,并在復(fù)位完成時達到峰值:漏電感延遲次級電流產(chǎn)生的時間t2并影響其峰值。存儲在漏電感中的能量加上初級電感的額外能量在鉗位網(wǎng)絡(luò)中被消耗。
這一事件的特寫如圖3所示。如您所見,漏電感明顯延遲,并阻止次級電流立即達到峰值。而且,這峰值電流不是Ipeak/N ,而是如[1]所示為
(13)
圖3:當(dāng)漏電感被耗盡,次級端電流達到峰值。
更新Dc傳遞函數(shù)
現(xiàn)在我們對轉(zhuǎn)換過程有了更好的理解,我們來計算已描述的小的時間事件t1和t2。t1是激勵漏電感從0到谷底電流Iv所需的時間。當(dāng)SW關(guān)閉,施加到漏電感的電壓是反射輸出電壓(二極管D仍然導(dǎo)通)和輸入電壓Vin。忽略次級端二極管正向壓降Vf,因而時間t1定義為:
(14)
如果我們規(guī)范化至開關(guān)周期,我們得到占空比d1為
(15)
漏電感復(fù)位時間t2以類似方式確定。當(dāng)開關(guān)打開時(忽略集總電容充電時間),自D開始導(dǎo)通,施加到漏電感的電壓是鉗位電平減反射電壓。因而我們有
(16)
一旦規(guī)范化至開關(guān)周期,我們得出占空比d2為
(17)
為確定轉(zhuǎn)換器輸出電壓的一個好的工具是電感電荷平衡法,規(guī)定電感L在穩(wěn)態(tài)時的平均電壓是0:
(18)
初級電感電壓如圖4所示。為符合(18),我們可寫以下等式
(19)
在以上表達式中解得Vout并重新整理為
(20)
簡化為
(21)
這時漏電感為0。
圖4:初級電感穩(wěn)態(tài)時的平均電壓為0。
我們感興趣的觀察是有效的導(dǎo)通時間–在這期間,初級電感斜率為正–實際上是DTsw減少 。有效的占空比隨著漏電感增加而進一步減小。施加到初級電感的電壓也不是Vin ,而是更小,如式(1)。
簡單的逐周期模型
為測試我們的計算和波形,我們已采集了一個簡單的反激式轉(zhuǎn)換器工作于40%的占空比,提供略高于60 W的功率。電氣圖如圖5所示。漏電感已設(shè)為50 μH,如果您考慮600 μH的初級電感,說明變壓器嚴(yán)重耦合(8.3%)。
圖5:這簡單模型仿真一個反激式轉(zhuǎn)換器并展示其基本波形。
圖6:這些波形顯示我們在上文描述的所有事件。
通過仿真,我們可提取以下工作點,其中Vclp是C2兩端的電壓:
Ip=1.77A
Iv=672mA
Vclp=528V
漏電感磁化時間如(14)所描述,測量為176 ns。采用65-kHz開關(guān)頻率,占空比d1為
(22)
理論上,變壓器匝數(shù)比N為0.25,那么這反激式轉(zhuǎn)換器的輸出電壓如(21)所定義,等于20 V。如果我們用(20),那么輸出電壓實際上應(yīng)等于
(23)
仿真輸出電壓如圖7所示并確定該值。請注意,我們在仿真中使用的二極管的正向壓降為0 V。您可通過在二極管模型中設(shè)置擴散參數(shù)N為10m得到這結(jié)果。
圖7:這些波形顯示我們在上文描述的所有事件。
如果知道漏電感復(fù)位時間,還可精確計算輸出電流。仿真提供的谷底電流為672 mA,而峰值電流為1.77 A。應(yīng)用(16)和考慮528 V鉗位電壓(圖5中 C2兩端的電壓),漏電感復(fù)位時間為
(24)
相對應(yīng)的占空比為
(25)
我們還可預(yù)估在開關(guān)關(guān)閉后193 ns,漏電感復(fù)位時的次級峰值電流。應(yīng)用(13),我們發(fā)現(xiàn)
(26)
從圖3的低邊波形,我們現(xiàn)可通過計算構(gòu)成該曲線的各個不同領(lǐng)域確定在二極管和負(fù)載中循環(huán)的平均電流:
(27)
導(dǎo)入數(shù)值,我們有
(28)
這是由波形觀測儀給出的值,如圖8所示。
圖8:仿真次級端平均電流取決于峰值和各種小占空比d1和d2。
硬件驗證
為證實我們的分析,我們已建立了簡單的固定占空比反激式轉(zhuǎn)換器,其漏電感已被人為地增長到初級電感的2.5%,通過增添一個外部電感。圖9顯示MOSFET漏極電壓和次級端二極管電流。正如預(yù)期,當(dāng)開關(guān)打開時,次級電流沒有立即增加。這是由漏電感退磁時間引起的延遲。在圖右側(cè),您看二極管波形略微落后于急劇下降的漏極電壓。這是漏電感從0到谷底電流的磁化時間。圖10 的特寫證實了62 ns的導(dǎo)通時間。MOSFET的導(dǎo)通與下降的vDS (t)很好地同步,但Lp的磁化周期在62 ns后才真正開始。在這62 ns期間, Lp保持退磁,雖然MOSFET已導(dǎo)通。這現(xiàn)象在這里非常短暫,顯然可忽略不計。但您可清楚地觀察到延遲,這將獲得顯著更長的有源鉗位架構(gòu)。
圖9:采集的原型波形顯示次級端延遲,但小的次級二極管導(dǎo)通時間也延長。
圖10:下降沿的特寫顯示次級端二極管延遲62 ns
在圖11中,您可清楚地看到次級端電流延遲,但您也可計算漏電感復(fù)位時間。在此期間,在開關(guān)打開后,漏極電壓達到穩(wěn)定值。在本例中這時間持續(xù)217 ns。超調(diào)量相當(dāng)重要,并取決于鉗位二極管正向傳輸時間。必須在評估MOSFET 漏源擊穿電壓(BVDSS)的最余差量時考慮到。當(dāng)RCD二極管被堵塞,高頻振鈴涉及漏電感, Clump產(chǎn)生。阻尼這些振蕩有時是必要的,因為它們可嚴(yán)重輻射和影響EMI信號。確保涉及RCD鉗位的回路極短并靠近變壓器。將幾十歐姆的電阻與二極管串聯(lián)有助于阻尼這些振蕩。
圖11:觀察漏極電壓顯示所需的信息,特別是漏電感復(fù)位時間。
在這示波器截圖中,延遲持續(xù)很短的時間,因為漏電感迅速復(fù)位。但在有源鉗位轉(zhuǎn)換器中,涉及l(fā)leak和Cclamp的諧振在關(guān)斷時發(fā)生,自然延長復(fù)位時間。這諧振在次級產(chǎn)生平滑斷續(xù)的波形,即使工作在CCM模式。
結(jié)論
這第一部分顯示反激式轉(zhuǎn)換器波形受到漏電感的影響。有效的占空比減少了激勵漏電感所需的時間,而初級電感退磁延長相同的時間。Dc轉(zhuǎn)換器功能受到影響,并得出新的表達式。這些事件在反激式轉(zhuǎn)換器中是微小的,難以想象與一個良好耦合的變壓器聯(lián)系在一起。但在有源鉗位轉(zhuǎn)換器中,這時間可能是顯著的。我們第二部分將重點討論由漏電感帶來的小信號效應(yīng)。
免責(zé)聲明:本文為轉(zhuǎn)載文章,轉(zhuǎn)載此文目的在于傳遞更多信息,版權(quán)歸原作者所有。本文所用視頻、圖片、文字如涉及作品版權(quán)問題,請聯(lián)系小編進行處理。
推薦閱讀:
特別推薦
- 【“源”察秋毫系列】下一代半導(dǎo)體氧化鎵器件光電探測器應(yīng)用與測試
- 集成開關(guān)控制器如何提升系統(tǒng)能效?
- 工業(yè)峰會2024激發(fā)創(chuàng)新,推動智能能源技術(shù)發(fā)展
- Melexis推出超低功耗車用非接觸式微功率開關(guān)芯片
- Bourns 發(fā)布新款薄型線性濾波器系列 SRF0502 系列
- 三菱電機開始提供用于xEV的SiC-MOSFET裸片樣品
- ROHM開發(fā)出支持更高電壓xEV系統(tǒng)的SiC肖特基勢壘二極管
技術(shù)文章更多>>
- AMTS & AHTE South China 2024圓滿落幕 持續(xù)發(fā)力探求創(chuàng)新,攜手并進再踏新征程!
- 提高下一代DRAM器件的寄生電容性能
- 意法半導(dǎo)體Web工具配合智能傳感器加快AIoT項目落地
- 韌性與創(chuàng)新并存,2024 IIC創(chuàng)實技術(shù)再獲獎分享供應(yīng)鏈挑戰(zhàn)下的自我成長
- 上海國際嵌入式展暨大會(embedded world China )與多家國際知名項目達成合作
技術(shù)白皮書下載更多>>
- 車規(guī)與基于V2X的車輛協(xié)同主動避撞技術(shù)展望
- 數(shù)字隔離助力新能源汽車安全隔離的新挑戰(zhàn)
- 汽車模塊拋負(fù)載的解決方案
- 車用連接器的安全創(chuàng)新應(yīng)用
- Melexis Actuators Business Unit
- Position / Current Sensors - Triaxis Hall
熱門搜索