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電纜損耗對自動測試設備的影響

發(fā)布時間:2017-04-06 來源:Bernard Hyland 責任編輯:wenwei

【導讀】目前有許多測試公司設計、制造并銷售引腳數(shù)眾多的自動測試設備(ATE)。這些測試設備具有非常復雜的集成電路,用于驅(qū)動設備的每個引腳。一臺測試設備的引腳數(shù)可能多達4096個。從圖1可以看出:每個引腳通常都有一個相應的驅(qū)動器、比較器、負載,有時甚至需要參數(shù)測試單元(PMU)。這些電路通過電纜連接到測試引腳。為了降低成本,供應商可能會選用質(zhì)量比較差的電纜。而任何電纜,尤其是質(zhì)量較差的電纜,都會產(chǎn)生損耗,從而降低了測試設備的最終性能。
 
電纜損耗對自動測試設備的影響
圖1. 測試設備(DUT)典型框圖
 
電纜損耗定義
 
圖2所示典型同軸電纜主要有兩種損耗:趨膚效應損耗和介電損耗。
 
電纜損耗對自動測試設備的影響
圖2. 典型同軸電纜
 
趨膚效應損耗
 
高頻信號沿著導體內(nèi)側(cè)的表面?zhèn)鬏?圖2所示),這種現(xiàn)象即為所謂的趨膚效應損耗。趨膚深度(δ)定義為:
 
電纜損耗對自動測試設備的影響
 
式中,ω為頻率,單位為rad/s;µ為導體的導磁率,單位為H/m;ρ為導體的電阻系數(shù),單位為歐姆•米。趨膚效應使導線每單位長度的電阻Rl和電感Ll隨頻率的平方根而成比例增長。單位長度電阻的計算公式為:
 
電纜損耗對自動測試設備的影響
 
w為導線寬度。對于半徑為r的圓形電纜,其寬度為2πr。返回路徑的電阻也需要考慮,由于該阻抗通常遠小于正向路徑的電阻,可以忽略。
 
介電損耗
 
圖2中,電介質(zhì)絕緣體同樣會產(chǎn)生與頻率相關(guān)的電纜損耗。介電常數(shù)(ε)定義為:
 
電纜損耗對自動測試設備的影響
 
其中,ε''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''''為介電常數(shù)的實數(shù)部分;tanδ代表虛數(shù),或損耗正切值,它是電介質(zhì)損耗因數(shù)。因為電介質(zhì)絕緣體會影響電纜的電容,單位長度電纜的等效電容將從(Cl)變?yōu)镃l(1 + jtanδ)。
 
電纜總損耗
 
考慮到趨膚效應損耗和介電損耗,單位電纜的理想模型可簡化為圖3所示,包含上述損耗。
 
電纜損耗對自動測試設備的影響
圖3. 簡化電纜模型
 
圖3中,我們定義傳輸系數(shù)為jk = √ZK,Z為分布串聯(lián)電阻,Y為分布并聯(lián)導納。這種情況下:
 
電纜損耗對自動測試設備的影響
 
使用泰勒級數(shù)展開后可以得到近似的簡化方程式,如下所示:
 
電纜損耗對自動測試設備的影響
 
ZO為傳輸線特征阻抗,εr是相對介電常數(shù),c為光速。
 
我們最終需要的是電纜增益,H(f) = e-jkl,其中l(wèi)為電纜長度。使用上式,可以得到:
 
電纜損耗對自動測試設備的影響
 
其中:
 
電纜損耗對自動測試設備的影響
 
并且
 
電纜損耗對自動測試設備的影響
 
通過以上計算,可以得到下面簡單結(jié)論:
 
  1. 趨膚效應損耗(α1)對于低頻損耗起主導作用(圖4)
  2. 介電損耗(α2)對于高頻損耗起主導作用(圖4)
 
實際電纜的H(f)與上述近似公式稍有區(qū)別。對于自動測試設備,該近似公式能夠提供足夠的精度,這些應用中的電纜衰減最大為增加到6dB。
 
電纜損耗對自動測試設備的影響
圖4. 電纜趨膚效應損耗(內(nèi)層導體)、介電損耗以及返回路徑(外層導體)損耗的典型特性曲線
 
圖4給出了典型同軸電纜中各種損耗的基本特性曲線。該同軸電纜內(nèi)部是特征阻抗為50Ω銅線,外層是辮狀金屬導體。每類電纜損耗的特性不同,但變化趨勢與圖4一致。
 
電纜損耗總結(jié)
 
本應用筆記的目的不是提供一套嚴格的數(shù)學方法計算電纜損耗—這些內(nèi)容可以從教科書中得到。所推到的方程用于證明圖4所示特性曲線。從上述分析可以得到以下幾個結(jié)論:
 
  1. 所有電纜都產(chǎn)生損耗,這些損耗最終會限制系統(tǒng)性能。損耗大小取決于電纜質(zhì)量和規(guī)格。
  2. 電纜損耗主要包括:
 
a. 趨膚效應損耗,對于低頻信號起主要作用。
 
b. 介電損耗,對于高頻信號起主要作用。
 
c. 返回路徑損耗較小,多數(shù)情況下可以忽略。
 
d. 連接器、繼電器以及其它輸出節(jié)點或DUT連線的損耗。
 
電纜損耗與電纜成本
 
圖5給出了各種典型電纜的損耗特性曲線,表1對一些電纜的成本和損耗進行了對比。
 
電纜損耗對自動測試設備的影響
圖5. 不同電纜的損耗
 
電纜損耗對自動測試設備的影響
表1. 柔性同軸電纜的每英尺價格,出自同一制造商
 
注:
 
  1. 與劣質(zhì)電纜相比,高質(zhì)量電纜的價格成倍增長,可能高達20倍(圖5,表1)。
  2. ATE制造商更愿意使用低成本電纜,但是這樣的電纜會使系統(tǒng)性能變差。
  3. 如果引腳電子沒有電纜補償,則無法修正電纜損耗。
  4. 使用大損耗電纜時,需要用高成本、寬帶、大功率的引腳驅(qū)動器替代低成本、窄帶、低功耗的驅(qū)動器,以改善系統(tǒng)的設計裕量。
  5. 在一臺測試設備中使用4096條電纜,每米電纜的成本將介于$5325和$92,979之間(表1)。
  6. 在測試設備中為引腳電子增加電纜補償,以4096引腳設備為例,每臺設備可以節(jié)省$92,979 - $5325,或$87,654。
  7. 上述成本價格以表1提供的信息為基礎(chǔ),不同廠商的電纜價格可能會有較大差別。但從這些數(shù)字可以看出電纜產(chǎn)生的昂貴價格。因此,對于設備制造商來說選擇低成本電纜非常重要。
  8. 表1列舉電纜都是柔性電纜。半剛性和全鋼性電纜的性能最好,這類電纜的價格大約在每英尺$30,是最好的柔性電纜的3倍甚至更多。由于這些電纜成本過高,廠商不會選用。
  9. 隨著測試設備工作頻率的增加,必須使用電纜補償。目前,高端測試設備的工作速率超過1Gbps。
 
電纜損耗對性能的影響
 
對于運行在200Mbps范圍的測試設備,電纜損耗的影響不大。而當速率超過500Mbps時,需要對整個信號路徑、電路、電纜以及引腳的性能進行仔細分析,以保證每個引腳得到正確的測量指標。以下列舉了測試設備的重要指標:
 
  1. 波形的直流電平精度
  2. 上升和下降時間
  3. 最大的觸發(fā)率
  4. 最小脈寬
  5. 邊沿的傳輸延時精度和匹配
  6. 傳輸偏差,例如,傳輸偏差與最小脈寬、幅度、共模電壓的關(guān)系
 
電纜的選擇會直接影響上述指標。提高觸發(fā)率,不考慮電纜驅(qū)動器的帶寬,電纜損耗將成為制約測試設備性能的主要因素。從圖6、圖7可以明顯看出這一問題。
 
電纜損耗對自動測試設備的影響
圖6. 短電纜/高質(zhì)量電纜的階躍響應
 
電纜損耗對自動測試設備的影響
圖7. 長電纜/劣質(zhì)電纜的階躍響應
 
大多數(shù)工程師已經(jīng)了解圖6、圖7所示階躍響應結(jié)果,但仍需關(guān)注以下事項:
 
  1. t0表示上升到波形滿幅50%的時間。根據(jù)經(jīng)驗,10%到90%的上升時間大約為28.6 x t0。從兩個波形可以看出上升時間在兩種不同電纜長度或質(zhì)量下指標相差很大。
  2. 滾降特性對最大觸發(fā)速率、最小脈寬和帶寬影響較大。從上圖可以清晰看出信號路徑的劣化。
  3. 信號劣化與實際驅(qū)動器無關(guān)。這種情況下,我們使用了一個具有無限帶寬階躍響應的電路,正是電纜限制了響應的上升時間。
  4. 速率越高、電纜越長,問題會更嚴重。
  5. 所有電纜,無論電纜長度、質(zhì)量如何,都會在一定程度表現(xiàn)出圖6、圖7所示特性。
  6. 必須尋求解決電纜損耗的方案,以充分利用驅(qū)動器的帶寬,否則,只能選用高質(zhì)量電纜,而成本的增加又對提高應用的系統(tǒng)性能作用不大。
  7. 在電路中設計電纜補償可以解決電纜損耗問題。
 
總結(jié)
 
高速測試設備中使用的電纜會嚴重影響系統(tǒng)的整體性能,最終制約系統(tǒng)指標。由于不同電纜的價格差異較大,高速測試設備大多選用損耗較大的劣質(zhì)電纜。當速率接近或超過1Gbps時,設計人員必須考慮電纜損耗。使用寬帶驅(qū)動器也無法補償電纜的損耗,因此,電纜成為限制系統(tǒng)性能的關(guān)鍵因素。
 
為了充分利用帶寬大于1Gbps的測試設備的性能,必須解決電纜損耗問題。值得慶幸的是,目前已經(jīng)能夠獲得解決電纜補償問題的有效方案。 
 
 
 
 
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