【導讀】2015 年 5 月15 日，是德科技公司日前宣布，Solution Sources Programming Inc.（SSP）邊界掃描分析儀Keysight x1149與Keysight i3070 的配套使用，使其在邊界掃描測試上有所突破。SSP 是一家全面測試與測量解決方案的供應商。
SSP 共同創(chuàng)辦人兼高級工程經(jīng)理 Eric Harris 表示：“如今先進的測試技術(shù)使傳統(tǒng)在線測試（ICT）的應用范圍更為縮減。許多客戶堅信如果電路板接入率降至 50 % 以下，就需要尋找其他在線測試方法。借助現(xiàn)代平臺和夾具技術(shù)，我們可以為客戶提供始終如一的支持，幫助他們挽回失去的測試覆蓋范圍，并最終為他們的合同制造商與合作伙伴提供所需的故障診斷服務，以確保他們的生產(chǎn)線上不存在制造缺陷。只要搭配合適的工具，一切都會變得簡單。”
11 個 SSP 重點項目均采用了 Keysight x1149 解決方案。解決方案覆蓋了低接入率和零接入率電路板，以及由 50,000 個結(jié)點和超過 9,250 個網(wǎng)格組成的復雜網(wǎng)絡電路板。
高密度網(wǎng)絡電路板在應用傳統(tǒng)在線測試技術(shù)時面臨許多問題。譬如，沒有給最佳測試點提供足夠的物理空間、高速信號傳輸和信號完整性問題，以及單個電路板上有時存在多個邊界掃描鏈。外形小巧的是德科技臺式 x1149 可以輕松地與在線測試系統(tǒng)匹配，它不僅支持功能強大的測試功能組合，具有易用性并且已經(jīng)為產(chǎn)品制造做好準備。x1149 憑借獨有的 Autobank 故障診斷功能還能夠加快測試速度。
Harris 補充道：“x1149 和 i3070 的結(jié)合給我們帶來了顯著的成果。比如有的客戶的裝配線上有超過 90 個 DDR，使用傳統(tǒng)在線測試方法則會因為測試時間過長而無法進行。而我們的團隊不僅能夠順利完成這些 DDR 在線測試，并且測試時間還不到 60 秒。但傳統(tǒng)方法則要花費超過五分鐘時間。”
除此之外，具有有限測試接入或零測試接入的電路板也能應用這類工具進行測試，譬如平板電腦或智能手機。是德科技提供獨家的覆蓋擴展技術(shù) (CET)及其功能強大的硅釘 (Silicon Nails) 邊界掃描功能，這有助于擴大在電路板主要區(qū)域的測試覆蓋范圍。
SSP 總裁兼共同創(chuàng)辦人 Dan Orlando 表示：“我們的電路板有低于 25% 的接入率。通過整合在線測試和 x1149，我們已經(jīng)把測試覆蓋范圍恢復到了 90%。我們的專業(yè)技術(shù)和工具（例如 x1149）已經(jīng)使得測試覆蓋范圍得到極大改善，并且擴展了全部測試領(lǐng)域中的測試功能——包括平板電腦、SSD 固態(tài)硬盤和服務器以及網(wǎng)絡 PCBA 等。”
Orlando 補充道：“隨著電路板設(shè)計的復雜程度加深，SSP 繼續(xù)埋首創(chuàng)新，旨在讓客戶在 Keysight x1149 平臺上更好地運用豐富的邊界掃描技術(shù)。x1149 專為制造測試而設(shè)計。它的圖形用戶界面一目了然且操作簡單，可以讓我們的團隊迅速進行測試開發(fā)和調(diào)試，并在客戶生產(chǎn)線上快速實施電路板測試。不斷推陳出新的工程設(shè)計每一次都在挑戰(zhàn)傳統(tǒng)的生產(chǎn)測試理念，讓我們感到驕傲的是，我們制定的生產(chǎn)計劃不僅對客戶的合同制造商有所幫助，而且還能及早查到生產(chǎn)線上的故障，最終保護他們的品牌資產(chǎn)。”
是德科技產(chǎn)品開發(fā)團隊不斷改進 x1149 的測試應用功能，并與電子行業(yè)領(lǐng)先企業(yè)密切合作，通過開發(fā)創(chuàng)新的邊界掃描解決方案來增強產(chǎn)品質(zhì)量。
是德科技測量系統(tǒng)事業(yè)部市場營銷和支持總監(jiān) NK Chari 稱：“SSP 將其專業(yè)的測試開發(fā)技術(shù)與 x1149 的擴展邊界掃描測試功能結(jié)合在一起，可使測試覆蓋范圍達到更高的水平。另外，當前高度復雜的 PCBA 所需的測試時間也在大為縮減，包括網(wǎng)絡和服務器卡、平板電腦和智能手機等消費類電子產(chǎn)品中的 PCBA。我們?yōu)榭蛻籼峁╇S時可用的應用，期待幫助他們更好地進行邊界掃描測試。”
