【導(dǎo)讀】測試電池電阻是作為電子工程師最基本，算不上什么技術(shù)活，大家是不是都是這么覺得？若是這樣認(rèn)為你就大錯特錯了，測試電池內(nèi)阻可不是表面上那么簡單的事情，誰敢保證自己測量的電池內(nèi)阻是正確的？如果不敢保證，那就來看看下文到底你的電池內(nèi)阻測量對了嗎？
一、電池的基本等效電路
二：實(shí)際電池測試時的變化曲線
三：內(nèi)阻的測試方法
交流內(nèi)阻法：采用1KHz的正選波電流(一般為mA級別)，來測試引起的壓降，計算內(nèi)阻。直流內(nèi)阻法：直接采用工作中的電流，延遲一段時間以后才測試引起的壓降，計算內(nèi)阻值。
DCR法：使用不同的充電和放電倍率的電流，持續(xù)10S，記錄電壓和電流，形成一條直線，斜率即為內(nèi)阻。
MCCF法：采用持續(xù)時間為5S的脈沖充放電電流，記錄電壓降，計算內(nèi)阻。
HPPC法：美國PNGV規(guī)定，采用連續(xù)的充放電脈沖，測試引起的壓降，有兩種(放電時間18秒，充電2S;充放電時間均為10S)逆推法：EDLC測試法根I據(jù)EC62391規(guī)定，放電程序完成后，取放電曲線上線性的區(qū)域之 線段，并延申至放電之時間點(diǎn)取其與額定電壓間之電壓差與放電電，來計算DCIR值。
四：內(nèi)阻及內(nèi)阻的測試方法的區(qū)別
由內(nèi)阻的測試方法可知，通過控制電流，來測試或者逆推出壓降，通過計算來得出的結(jié)果。所以內(nèi)阻測試沒有精確度的說法，準(zhǔn)確的說法是指電壓擺幅(電壓降)的精度，在較高的電壓上精準(zhǔn)測試較小的電壓擺幅，是一個高難度的動作，費(fèi)思在這方面有專利技術(shù)。一般內(nèi)阻所謂的精度是指內(nèi)阻重復(fù)度。就是儀器在測試同一個電池的同一個SOC點(diǎn)時，多次測試的結(jié)果漂移。
不同的測試方法的測試結(jié)果之間是不可以對比的。因為不同的測試方法偏重的應(yīng)用環(huán)境不同。應(yīng)該根據(jù)不同的應(yīng)用環(huán)境選用相應(yīng)的測試方法。只有選對了方法，測試結(jié)果才有可參考性。
電池在不同的SOC狀態(tài)下，內(nèi)阻值不相同，不同的放電電流值，內(nèi)阻值也不相同，所以一般說內(nèi)阻，是指充滿電時的內(nèi)阻。特別是動力電池，內(nèi)阻是要測試整個充放電過程中的變化。最重要的是70%~30%SOC。
[page]
五：測試法的應(yīng)用
1、交流內(nèi)阻法：此測試法僅測試電池的歐姆內(nèi)阻，主要評價的是電池芯的生產(chǎn)工藝好壞。電芯生產(chǎn)廠家用交流內(nèi)阻的值來評價電芯的合格與否，通過電壓的波形來評價比如陽極陰極材料的噴涂效果，鉚接效果等等來改善工藝。而電子產(chǎn)品的供電電池也可采用此測試方式。一般來說，電池實(shí)際使用時，電流值小于0.1C的應(yīng)用環(huán)境，用交流法測試是可置信的。
原因：工作電流小，那么工作時，引起的電池極化現(xiàn)象基本可以忽略，所以基本不影響實(shí)際使用。
注釋：同樣的電池應(yīng)用環(huán)境不同，測試方法不同，比如同樣的電芯用在手機(jī)上，則用交流內(nèi)阻測試即可，如果用到移動電源里，則用直流內(nèi)阻法測試。
優(yōu)點(diǎn)：測試速度快，穩(wěn)定性好，測試設(shè)備便宜。
2、直流內(nèi)阻法：實(shí)際工作電流超過0.1C，那么就要用直流內(nèi)阻法進(jìn)行測試了。一般應(yīng)用于動力電池或者大功率儲能電池，則使用這個方法測試。一般電壓降的讀值會使用帶載時的電壓降，或者停止帶載時的回彈電壓。
DCR,MCCF,HPPC三種方法測試的基礎(chǔ)是相同的。并且在30%~70%SOC狀態(tài)下，測試結(jié)果基本相同，也與直流內(nèi)阻法測試相同。其他區(qū)段，差異也不是很大，均可用于電池的評估。
原因：工作電流大，會引起電池的電化學(xué)極化內(nèi)阻和濃差極化內(nèi)阻，而這兩項引起的內(nèi)阻值，基本相當(dāng)于交流內(nèi)阻，甚至?xí)髷?shù)倍，所以，在大電流輸出使用環(huán)境下，測試的時候必須考慮計劃內(nèi)阻。
3、逆推法：是建立在理想狀態(tài)下的電池的測試方法，這個方法一般會用應(yīng)用于測試標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定，不會應(yīng)用與實(shí)際測試。因為測試儀器本身不可能既保證高電壓的精度的同時保很小的電壓擺幅的測試，還要保證非常高長時間帶在穩(wěn)定，和極低的溫度系數(shù)。
測試內(nèi)阻的變化曲線：充放電全過程。每隔設(shè)置的時間測試一次。
相關(guān)閱讀：
