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泰克推出發(fā)射器和接收器一致性與調試測試套件

發(fā)布時間:2012-11-08 責任編輯:Lynnjiao

【導讀】泰克推出業(yè)界最完整、最靈活的自動PCI Express 3.0 Tx、Rx測試套件,該套件全面的接收器和發(fā)射器解決方案為集成電路、主機和板卡設計人員提供一站式解PCI Express 3.0測試解決方案。

PCIe 3.0測試與調試

泰克公司日前宣布,推出業(yè)內針對PCI Express 3.0標準的,最靈活和最完整的自動化發(fā)射器 (Tx) 和接收器 (Rx) 一致性與調試測試解決方案。通過對BERTScope誤碼率分析儀系列的新產品增強以及PCI Express測試軟件,泰克現在可以為集成電路、主機和板卡設計人員提供一站式PCI Express 3.0測試解決方案。

PCI Express的每一代推出,都使得其變得更快和更復雜。在8 Gb/s的速度,PCI Express 3.0測試涉及復雜的Rx壓力條件作用 (stress conditioning),BER一致性測試以及大量Tx一致性測試。另外,設計失敗時的調試還需要完全測試支持。憑借最新更新,泰克現在提供對PCI Express 3.0的物理層測試自動化與調試的業(yè)內最全面支持。

“PCIe3測試的許多方面——如鏈路訓練和Tx均衡檢測——都非常復雜,對工程師提出了極大的挑戰(zhàn)”,泰克高性能示波器總經理Brian Reich表示,“通過提供強大的自動化功能集,我們使復雜的PCIe3測試變得容易完成,同時確保得到更一致的結果。這意味著漫長而復雜的測試——如壓力眼圖校準、發(fā)射器一致性測試等——都將成為簡單很多的工作了。”
 
對于PCIe3 Rx測試,PCI-SIG測試規(guī)格要求的壓力碼型生成是自動化的,現在包括對時鐘倍頻和眼圖張開測試的綜合支持。另外,DUT環(huán)回控制也是自動化的,這簡化了測試過程,減少了得到測試結果的時間。支持這些功能的增強包括新DPP125C——其向壓力碼型添加了預加重,帶可變ISI的新BSAITS125集成式干擾合并器,以及新BSAPCI3自動校準、環(huán)回和鏈路訓練軟件。構成復雜Rx解決方案的其他組成部分包括一個用于共模干擾測試的泰克AFG3000任意波形/函數發(fā)生器和基于世界級CR286A系列時鐘恢復單元的PLL環(huán)路帶寬解決方案。BERTScope的這些補充部分消除了對第三方插件 (add-on) 的需要。

對于PCIe3 Tx測試,泰克通過將用于一致性測試的PCI-SIG SigTest實用軟件直接包括進其泰克DSA70000系列數字示波器上的TekExpress自動化框架增強了其解決方案。通過這一集成,更新后的PCE3軟件自動化了SigTest測試的測試儀器與DUT控制、碼型驗證、數據采集及分析,并允許對多項SigTest結果進行定制報告。PCE3軟件還在一致性測試失敗時提供向調試的無縫轉變。

供貨信息

泰克PCI Express 3.0 Tx、Rx測試與調試解決方案現已全球供貨。

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