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惡劣工作環(huán)境中的開關(guān)和多路復(fù)用器設(shè)計(jì)考慮

發(fā)布時(shí)間:2012-09-12 責(zé)任編輯:sunnypeng

【導(dǎo)讀】汽車應(yīng)用中的惡劣工作環(huán)境對(duì)集成電路的技術(shù)要求極端苛刻,電路必須能夠承受高電壓和電流、極端溫度和濕度、振動(dòng)、輻射以及各種其他應(yīng)力。本文描述了工程師在將模擬開關(guān)和多路復(fù)用器設(shè)計(jì)到惡劣環(huán)境下所用模塊中時(shí)面臨的挑戰(zhàn),并提供了一些一般解決方案建議,以供電路設(shè)計(jì)人員用來(lái)保護(hù)容易損壞的 器件。另外,文中介紹了一些新款集成開關(guān)和多路復(fù)用器,這些器件在過(guò)壓保護(hù)、防閂鎖特性和故障保護(hù)上均有所改善,能夠處理常見(jiàn)應(yīng)力狀況。

汽車、軍事和航空電子應(yīng)用中的惡劣工作環(huán)境對(duì)集成電路的技術(shù)要求極端苛刻,電路必須能夠承受高電壓和電流、極端溫度和濕度、振動(dòng)、輻射以及各種其他應(yīng)力。為了提供安全、娛樂(lè)、遠(yuǎn)程信息處理、控制和人機(jī)界面等應(yīng)用領(lǐng)域所需的特性和功能,系統(tǒng)工程師迅速采用高性能電子器件。隨著精密電子器件的使用日益增加,系統(tǒng)也變得越來(lái)越復(fù)雜,而且更易受到電子干擾,其中包括過(guò)壓、閂鎖狀況和靜電放電(ESD)事件。這些應(yīng)用中采用的電子電路需要具有高可靠性和對(duì)系統(tǒng)故障的高耐受性,因此設(shè)計(jì)人員在選擇器件時(shí)必須考慮到環(huán)境因素和器件自身限制。

此外,每個(gè)集成電路都有制造商規(guī)定的一些絕對(duì)最大額定值;設(shè)計(jì)時(shí)必須留意這些額定值,才能確保性能可靠且達(dá)到公布的技術(shù)規(guī)格。一旦超過(guò)這些絕對(duì)最大額定值,則無(wú)法保證工作參數(shù);甚至可能導(dǎo)致內(nèi)置ESD、過(guò)壓或閂鎖保護(hù)失效,從而導(dǎo)致器件(并有可能更進(jìn)一步)損壞或出現(xiàn)故障。

本文描述了工程師在將模擬開關(guān)和多路復(fù)用器設(shè)計(jì)到惡劣環(huán)境下所用模塊中時(shí)面臨的挑戰(zhàn),并提供了一些一般解決方案建議,以供電路設(shè)計(jì)人員用來(lái)保護(hù)容易損壞的器件。另外,文中介紹了一些新款集成開關(guān)和多路復(fù)用器,這些器件在過(guò)壓保護(hù)、防閂鎖特性和故障保護(hù)上均有所改善,能夠處理常見(jiàn)應(yīng)力狀況。

標(biāo)準(zhǔn)模擬開關(guān)架構(gòu)
要完全弄清楚模擬開關(guān)上故障狀況造成的影響,首先必須查看其內(nèi)部結(jié)構(gòu)和工作極限。

標(biāo)準(zhǔn)CMOS開關(guān)(圖1)采用N和P溝道MOSFET作為開關(guān)元件、數(shù)字控制邏輯和驅(qū)動(dòng)器電路。N和P溝道 MOSFET以并聯(lián)方式相連,允許進(jìn)行雙向操作,并將模擬輸入電壓范圍可以擴(kuò)展到供電軌,同時(shí)在整個(gè)信號(hào)范圍內(nèi)使導(dǎo)通電阻保持相當(dāng)恒定。
圖1.標(biāo)準(zhǔn)模擬開關(guān)電路
圖1.標(biāo)準(zhǔn)模擬開關(guān)電路

信號(hào)源、漏極和邏輯控制端對(duì)正負(fù)源電壓都設(shè)計(jì)有箝位二極管以提供ESD保護(hù),如圖1所示。在正常工作模式下,這些二極管反向偏置,因此除非信號(hào)超過(guò)電源電壓,否則不會(huì)通過(guò)電流。這些二極管的尺寸因工藝而異,不過(guò)一般都采用小型設(shè)計(jì),以盡量減少正常工作時(shí)的漏電流。

模擬開關(guān)的控制方式如下:當(dāng)柵極-源極電壓為正值時(shí),N溝道器件導(dǎo)通,而當(dāng)該電壓為負(fù)值時(shí)則關(guān)斷;P溝道器件由互補(bǔ)信號(hào)進(jìn)行切換,因此與N溝道器件同時(shí)接通。開關(guān)的接通與斷開是通過(guò)在兩個(gè)柵極上分別施加正負(fù)源電壓來(lái)實(shí)現(xiàn)的。

當(dāng)柵極上的電壓固定時(shí),兩個(gè)晶體管的有效驅(qū)動(dòng)電壓隨著通過(guò)開關(guān)的模擬信號(hào)極性和幅度變化而呈比例變化。圖2中的虛線表示,當(dāng)輸入信號(hào)接近電源電壓時(shí),總有一個(gè)器件的溝道開始飽和,從而造成該器件的導(dǎo)通電阻急劇增加。不過(guò),并聯(lián)器件在供電軌電壓附近相互補(bǔ)償,因此最終得到的是完全的軌到軌開關(guān),并且導(dǎo)通電阻在信號(hào)范圍內(nèi)保持相對(duì)恒定。
圖2.標(biāo)準(zhǔn)模擬開關(guān)RON圖
圖2.標(biāo)準(zhǔn)模擬開關(guān)RON圖
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絕對(duì)最大額定值
設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)當(dāng)注意器件數(shù)據(jù)手冊(cè)中規(guī)定的開關(guān)功率要求,這樣才能保證性能、操作和壽命均達(dá)到最佳。不幸的是,實(shí)際操作過(guò)程中存在電源故障、惡劣環(huán)境中的電壓瞬變和系統(tǒng)或用戶故障,因而不可能始終達(dá)到數(shù)據(jù)手冊(cè)的要求。

只要模擬開關(guān)的輸入電壓超過(guò)電源電壓,即使電源已關(guān)閉,內(nèi)置ESD保護(hù)二極管變成正向偏置,允許流過(guò)大電流,這樣即會(huì)超過(guò)那些額定值。正向偏置時(shí),這些二極管導(dǎo)通電流并不只局限于幾十毫安,一旦不對(duì)這個(gè)正向電流加以限制,就可能會(huì)造成器件損壞。更為嚴(yán)重的是,故障導(dǎo)致的損壞并不限于開關(guān),也可能影響到下游電路。

數(shù)據(jù)手冊(cè)的“絕對(duì)最大額定值”部分(圖 3)描述了器件可以耐受的最大應(yīng)力條件;請(qǐng)務(wù)必注意,這些只是額定最值。長(zhǎng)期在絕對(duì)最大額定值條件下工作會(huì)影響器件的可靠性。設(shè)計(jì)人員應(yīng)當(dāng)始終遵循良好的工程實(shí)踐做法,在設(shè)計(jì)中保留余量。此處示例摘自標(biāo)準(zhǔn)開關(guān)/多路復(fù)用器數(shù)據(jù)手冊(cè)。
圖3.數(shù)據(jù)手冊(cè)的“絕對(duì)最大額定值”部分
圖3.數(shù)據(jù)手冊(cè)的“絕對(duì)最大額定值”部分

本例中,VDD至VSS參數(shù)的額定值為 18 V。該額定值取決于開關(guān)的制造工藝和設(shè)計(jì)架構(gòu)。所有高于18V的電壓都必須與該開關(guān)完全隔離開來(lái),否則將會(huì)超過(guò)與該工藝相關(guān)的元件本征擊穿電壓,而這可能會(huì)損壞器件并導(dǎo)致工作不可靠。

無(wú)論是否施加電源,模擬開關(guān)輸入端的電壓上限通常都取決于ESD保護(hù)電路,該電路可能會(huì)因發(fā)生故障情況而失效。

圖4.模擬開關(guān)—ESD保護(hù)二極管
模擬輸入電壓極值以超出VDD和VSS 0.3 V為限,而數(shù)字輸入電壓極值以超出VDD和GND 0.3 V為限。當(dāng)模擬輸入超過(guò)電源電壓時(shí),內(nèi)置ESD保護(hù)二極管變?yōu)檎㈤_始導(dǎo)通。如“絕對(duì)最大額定值”部分所述,IN、S或D上的過(guò)壓由內(nèi)部二極管箝位。雖然 30 mA以上的電流可以通過(guò)內(nèi)部二極管且不會(huì)產(chǎn)生明顯影響,但是器件可靠性和壽命可能會(huì)有所下降,且隨著時(shí)間推移可能會(huì)出現(xiàn)電子遷移效應(yīng)(即導(dǎo)線上金屬原子逐漸發(fā)生移動(dòng))。當(dāng)強(qiáng)電流流過(guò)金屬路徑時(shí),移動(dòng)中的電子與導(dǎo)線上的金屬原子之間會(huì)產(chǎn)生相互作用,迫使金屬原子隨著電子移動(dòng)而移動(dòng)。隨著時(shí)間的推移,這可能會(huì)導(dǎo)致開路或短路。

在將開關(guān)設(shè)計(jì)到系統(tǒng)中時(shí),需要考慮到系統(tǒng)中因器件故障、用戶錯(cuò)誤或環(huán)境影響而可能出現(xiàn)的各種潛在故障,這點(diǎn)非常重要。下一節(jié)將討論超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)模擬開關(guān)絕對(duì)最大額定值的故障狀況是如何損壞開關(guān)或?qū)е缕涔ぷ鞑徽5摹?br /> [page]
常見(jiàn)故障狀況、系統(tǒng)應(yīng)力和保護(hù)方法
故障狀況的出現(xiàn)原因各不相同;表1中列出了一些最為常見(jiàn)的系統(tǒng)應(yīng)力及其實(shí)際來(lái)源:
最為常見(jiàn)的系統(tǒng)應(yīng)力及其實(shí)際來(lái)源


有些應(yīng)力可能無(wú)法避免。無(wú)論應(yīng)力的來(lái)源是什么,更為重要的是如何處理其產(chǎn)生的影響。下文問(wèn)答環(huán)節(jié)涵蓋了過(guò)壓、閂鎖和 ESD 事件三種故障狀況并提供了一些常見(jiàn)的保護(hù)方法。
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