中心議題：
- LCR測(cè)量?jī)x的工作原理及阻抗測(cè)量特點(diǎn)
- 利用LCR測(cè)量?jī)x測(cè)量電容和電感
解決方案：
- LCR測(cè)量?jī)x測(cè)量電容
- LCR測(cè)量?jī)x測(cè)量電感
本文介紹了LCR 測(cè)量?jī)x的工作原理及其阻抗測(cè)量的特點(diǎn)，分析了信號(hào)源輸出阻抗、寄生分布參數(shù)對(duì)阻抗測(cè)量結(jié)果的影響， 指出電容、電感測(cè)量中應(yīng)注意的一些問(wèn)題。
1 引言
電感、電容和電阻等阻抗元件的測(cè)量是電子測(cè)量技術(shù)的基礎(chǔ)， 其測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確與否將直接影響到整機(jī)的質(zhì)量。通常人們將電感、電容、電阻測(cè)量?jī)x稱為L(zhǎng)CR 測(cè)量?jī)x， 或者也稱之為阻抗分析儀。由于LCR 測(cè)量?jī)x使用方便， 因此被人們廣泛采用。
目前LCR 測(cè)量?jī)x的發(fā)展速度非?？?， 幾乎取代了所有手動(dòng)式電子元件測(cè)試儀器， 其測(cè)量精度不斷提高（高達(dá)±0.02 %）， 頻率范圍不斷拓寬（從20 Hz到數(shù)GHz）； 其測(cè)量參數(shù)也越來(lái)越多。在電子元件測(cè)試領(lǐng)域， LCR 測(cè)量起著非常重要的作用， 其測(cè)量結(jié)果可靠與否將直接影響電子元件的質(zhì)量乃至電子產(chǎn)品和電氣產(chǎn)品的技術(shù)性能。然而， 由于不少使用者對(duì)阻抗測(cè)量的特點(diǎn)以及LCR 測(cè)量?jī)x的原理不熟悉而導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果的不一致， 不可靠的情況在實(shí)際工作中經(jīng)常發(fā)生。特別是對(duì)高介電系數(shù)陶瓷電容器、帶磁芯的電感器進(jìn)行測(cè)量時(shí)這種情況尤為突出， 我們?cè)趯?shí)際工作中多次遇到元件制造商與元件使用廠商由于測(cè)量結(jié)果不一致而導(dǎo)致退貨糾紛的情況。本文通過(guò)對(duì)LCR 測(cè)量?jī)x的原理及阻抗測(cè)量的影響因素分析， 提出電感電容測(cè)量中應(yīng)采取的正確方法及注意事項(xiàng)。
2 LCR 測(cè)量?jī)x的組成分析
LCR 測(cè)量?jī)x的組成原理為自動(dòng)平衡電橋理論，其結(jié)構(gòu)主要由三部分組成， 分別為信號(hào)源、自動(dòng)平衡橋和矢量比檢測(cè)器。
信號(hào)源部分產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)， 測(cè)試信號(hào)頻率可從40 Hz 到110 MHz， 輸出信號(hào)電平為5 mV 到1 V，由一個(gè)微處理器控制頻率合成器來(lái)提供高分辨率的測(cè)試信號(hào)， 信號(hào)電平由一個(gè)衰減器來(lái)進(jìn)行調(diào)整。
自動(dòng)平衡橋部分根據(jù)通過(guò)測(cè)試件的電流來(lái)調(diào)整通過(guò)量程電阻的電流， 使在測(cè)試件DUT 的低電壓端維持零電位， 這時(shí)叫電橋平衡。當(dāng)電橋不平衡時(shí)， 零檢測(cè)器就檢測(cè)到一個(gè)電流， 同時(shí)相位檢測(cè)器把這信號(hào)分成00 和900 分量， 這兩個(gè)分量通過(guò)環(huán)路濾波器反饋給調(diào)節(jié)器來(lái)控制00 和900 的分量信號(hào)，結(jié)果信號(hào)被放大并反饋給量程電阻來(lái)抵消通過(guò)零檢測(cè)器的電流， 從而達(dá)到電橋平衡。
矢量比檢測(cè)器測(cè)量加在被測(cè)件上的矢量電壓Udut 和量程電阻上的矢量電壓Urr， 由于量程電阻值是已知的， 所以測(cè)量這兩個(gè)電壓就能得到矢量阻抗Zx =Rr ×（Udut/Urr）。
阻抗是評(píng)測(cè)電路、元件以及制作元件的材料性能的重要參數(shù)， 阻抗Z 通常定義為給定頻率下對(duì)流經(jīng)電路或元件的交流電流的抵抗能力， 它用矢量平面上的復(fù)數(shù)表示， 一個(gè)阻抗矢量包括實(shí)部（電阻R） 和虛部（電抗X）。通?？杀硎緸閆=R+jX， 為確定阻抗， 我們至少需要測(cè)量?jī)蓚€(gè)值， 因?yàn)樽杩故且粋€(gè)復(fù)數(shù)。許多現(xiàn)代的阻抗測(cè)量?jī)x測(cè)量阻抗的實(shí)部和虛部， 然后將它們轉(zhuǎn)換成所需要的參數(shù)，如Z、C、L、R、G、B 等。
所有的電路元件既不是純粹的電阻性元件， 也不是純粹的電抗性元件， 而是這些阻抗成分的組合。因?yàn)樗姓鎸?shí)世界的器件都存在寄生參數(shù)， 電阻中有不希望的電感， 電容器中有不希望的電阻，以及電感器中有不希望的電容等。當(dāng)然， 不同的材料和制造技術(shù)會(huì)造成不同大小的寄生參數(shù)， 以至影響到元件的可使用性， 以及所能確定電阻、電容和電感量值的準(zhǔn)確程度。
一個(gè)真實(shí)世界的元件包含許多寄生參數(shù)。作為元件主要參數(shù)和寄生參數(shù)的組合， 一個(gè)元件就好比一個(gè)復(fù)雜電路。
3 電容器的測(cè)量
電容器是電子電路中使用的一種基本元件。電容器的基本結(jié)構(gòu)是在兩個(gè)極間夾一層介質(zhì)材料， 各種實(shí)用電容器可按它的介質(zhì)類(lèi)型分類(lèi)， 不同類(lèi)型的電容器有不同的性能特征， 電容量C、損耗因素D 和等效串連電阻（ESR） 是通常需要測(cè)量的參數(shù)。
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電容器的典型等效電路如圖1 所示， 在該電路中， 電容量C 是電容器的主要成分， Rs 和L 是引線和電極中存在的寄生參數(shù)， Rp 代表兩個(gè)電極間的寄生泄漏參數(shù)。
當(dāng)我們進(jìn)行電容器測(cè)量時(shí)， 必須考慮這些寄生量。阻抗測(cè)量?jī)x器使用串聯(lián)模式（Cs-D、Cs-Rs）或并聯(lián)模式（Cp-D、Cp-Rp） 來(lái)測(cè)量電容。由于寄生參數(shù)的存在， 造成所顯示的電容值并不總是等于實(shí)際電容值C。例如， 當(dāng)使用Cs-Rs 模式測(cè)量圖1 所示的電容器電路時(shí)， 顯示的電容值用圖2的復(fù)雜公式表示。只有當(dāng)Rp 值足夠高， 并且L 的電抗可以忽略時(shí)， Cs 才等于Co。在高頻區(qū)能看到L 的影響， 在這種情況下就不能忽略L。對(duì)于高值電容器， 與C 值并聯(lián)的電抗遠(yuǎn)低于Rp。對(duì)于低值電容器， Rp 本身就很高， 所以， 大多數(shù)電容可用圖3 表示。
在電容器的測(cè)量中， 應(yīng)注意的事項(xiàng)與被測(cè)電容量有關(guān)， 高值電容測(cè)量屬于低阻抗測(cè)量， 因此必須把接觸電極、測(cè)試夾具和電纜中的接觸電阻及殘余阻抗減到最低， 應(yīng)使用4 端、5 端或4 端對(duì)配置把DUT 接到儀器上。在使用4 端和5 端配置時(shí)， 必須確保高測(cè)試信號(hào)電流流過(guò)電纜， 為避免電磁場(chǎng)耦合的影響， 按圖4 所示的方式來(lái)連接電纜；此外， 為進(jìn)行精確測(cè)量， 應(yīng)正確使用開(kāi)路、短路補(bǔ)償。特別是對(duì)于施加直流偏置電壓的電解電容器，應(yīng)在直流偏置設(shè)置為ON （0 V） 時(shí)進(jìn)行開(kāi)路/短路補(bǔ)償。
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低值電容測(cè)量屬于高阻抗測(cè)量。接觸電極間雜散電容比殘余阻抗有更大的影響， 使用3 端（屏避2T）、5 端（屏避4T） 或4 端對(duì)（4TP） 法， 正確的接地技術(shù)和開(kāi)路/短路補(bǔ)償可以把雜散電容的影響減到最小。
除電容量外， 損耗因素D 和等效串聯(lián)電阻ESR 也是需要測(cè)量的重要的電容器參數(shù)， 對(duì)低D 值和低ESR 值的測(cè)量必須給予特別的注意。即使使用4端配置， 測(cè)試夾具和電纜間的接觸電阻和殘余阻抗也會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。
對(duì)于高介電系數(shù)材料瓷介電容器的測(cè)量， 特別要注意測(cè)量條件的完全一致， 才能得到一致的測(cè)量結(jié)果。如有一批高介電系數(shù)材料片狀電容器， 規(guī)格為1 μF， 其產(chǎn)品的技術(shù)規(guī)范規(guī)定測(cè)量電容量的技術(shù)條件為頻率1 kHz， 測(cè)量電壓為1 V, 生產(chǎn)廠商和使用廠的測(cè)量結(jié)果不一致而起糾紛， 他們起初認(rèn)為對(duì)方儀器有問(wèn)題， 后來(lái)他們各自拿出儀器近期校準(zhǔn)合格證書(shū)來(lái)證明自己的儀器是準(zhǔn)確的； 由于儀器是在我中心校準(zhǔn)的， 所以他們找到我們要求給予仲裁。
其實(shí)， 這種情況我們已經(jīng)遇到多次， 是由于大家對(duì)儀器的原理和產(chǎn)品的特性了解不深而造成的。
由于不同型號(hào)的儀器信號(hào)源有不同的輸出阻抗， 典型的輸出阻抗有100 Ω、300 Ω、30 Ω 等， 加上被測(cè)件后， 源阻抗和被測(cè)件阻抗進(jìn)行分壓， 所以加在被測(cè)件上的電壓不是儀器設(shè)定電壓1 V, 而是源阻抗和被測(cè)件阻抗進(jìn)行分壓后的電壓值， 由于源阻抗不同， 造成實(shí)際加在被測(cè)件的的電壓不同， 而該電容器又對(duì)測(cè)量電壓很敏感， 故測(cè)量結(jié)果有很大的不同。
4 電感器的測(cè)量
電感器由纏繞在磁芯上的導(dǎo)線構(gòu)成， 其特性則由所使用的磁芯材料決定?？諝馐菢?gòu)成電感器最簡(jiǎn)單的磁性材料， 但為使電感器具有更高的電感量，經(jīng)常用鐵、鐵氧體等磁性材料做磁芯。電感器的典型等效電路如圖5 （a） 所示， 圖中Rp 代表磁性的鐵耗， Rs 代表導(dǎo)線的銅耗， C 是繞線間的分布電容。對(duì)于低值電感應(yīng)使用圖5 （b） 所示的等效電路。由于L 值很小， 繞組間的分布電容就成了主要的影響因素。
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有時(shí)， 使用不同的儀器會(huì)得到不同的電感測(cè)量結(jié)果。其原因是：
a） 測(cè)試信號(hào)電流的影響。
磁性電感器與測(cè)試信號(hào)電流的關(guān)系如圖6 （a）所示。電感量隨測(cè)量電流的大小而不同， 即使將兩臺(tái)不同的儀器設(shè)置為同樣的輸出電壓， 如果它們的源阻抗不同， 它們的輸出電流也將不同， 請(qǐng)參考圖6 （b）。有些磁性電感器的電感量與流過(guò)電流的關(guān)系很大， 電流的變化可導(dǎo)致電感值成倍地變化。我們多次遇到元件制造廠與元件使用廠家的糾紛就源于此。他們用不同的儀器測(cè)量同一產(chǎn)品的結(jié)果有很大的不同， 進(jìn)而懷疑儀器有問(wèn)題， 但儀器經(jīng)過(guò)我們計(jì)量校準(zhǔn)是合格的。其實(shí)就是因?yàn)閮x器的源阻抗不同而導(dǎo)致通過(guò)測(cè)試件的電流不同， 測(cè)量結(jié)果當(dāng)然也就不一致。因此一些高檔的LCR 表有電壓、電流監(jiān)視器功能， 可監(jiān)測(cè)實(shí)際加在測(cè)試件上的電壓及流過(guò)測(cè)試件的電流。
b） 使用的測(cè)試夾具的影響。
當(dāng)電感器旁邊有金屬物體時(shí)， 電感器的泄漏磁通將在金屬中產(chǎn)生渦流。不同的測(cè)試夾具由于大小和形狀的不同， 所產(chǎn)生的渦流幅度也不同， 從而造成不同的測(cè)量結(jié)果， 這對(duì)測(cè)量磁通開(kāi)路的電感器尤為重要。
c） 電感器的影響。
有些儀器使用廠家自己繞制一些電感器作為校準(zhǔn)LCR 表的標(biāo)準(zhǔn)器， 也往往會(huì)得出不正確的結(jié)果。
因?yàn)檫@類(lèi)電感器大多采用直線管形結(jié)構(gòu)， 甚至采用磁性材料作為骨架， 或者直接用電感器產(chǎn)品作為標(biāo)準(zhǔn)器。這種電感器的致命缺點(diǎn)是電感值與測(cè)量電流大小有關(guān)， 不能抗電磁干擾， 穩(wěn)定性差， 其電感值受環(huán)境條件的影響極大。現(xiàn)在的標(biāo)準(zhǔn)電感器一般采用環(huán)形電感線圈， 輔之于電磁屏蔽以解決電感器抗電磁干擾， 采用非磁性骨架材料與溫度補(bǔ)償技術(shù)，克服一般電感器的缺點(diǎn)， 可用來(lái)校準(zhǔn)LCR 測(cè)量?jī)x。
5 結(jié)束語(yǔ)
LCR 測(cè)量?jī)x作為一種廣泛使用的基礎(chǔ)測(cè)量?jī)x器， 只有正確掌握其測(cè)量方法及阻抗測(cè)量的特點(diǎn)，才能得到可靠、準(zhǔn)確的結(jié)果。
