產(chǎn)品特點(diǎn)：
- DDRA選件增加了關(guān)鍵規(guī)范驗(yàn)證測量功能
- 最新BGA元件內(nèi)插器可以簡便安裝在客戶電路板上
- DDR設(shè)計(jì)和測試
測試、測量和監(jiān)測儀器提供商--泰克公司日前宣布，為DPO/DSA70000B系列和DPO7000系列示波器推出第三代經(jīng)過驗(yàn)證的DDR分析軟件產(chǎn)品(DDRA選件)。泰克DDR測試解決方案支持DDR、DDR2、DDR3、LP-DDR和GDDR3的全部速度，同時覆蓋了物理層和數(shù)字域。泰克公司還為DDR3存儲器設(shè)計(jì)推出一套新的擁有Nexus Technology技術(shù)的球柵陣列(BGA)元件內(nèi)插器（Interposers），改善了連接能力。泰克系列邏輯分析儀、示波器和探測系統(tǒng)共同構(gòu)成了DDR設(shè)計(jì)和測試工程師們所需的關(guān)鍵測試解決方案的核心。
DDR3標(biāo)準(zhǔn)支持800MT/s(每秒百萬次傳輸)到2133 MT/s的數(shù)據(jù)速率，相應(yīng)的時鐘頻率分別為400 MHz到1066 MHz，是DDR2技術(shù)的兩倍。DDR3特別適合于高性能應(yīng)用，如文件服務(wù)器、影視點(diǎn)播、編碼和解碼、游戲和3-D可視化。
泰克DPO/DSA70000B系列和DPO7000系列示波器的DDR 分析軟件 (DDRA選件)增加了業(yè)內(nèi)同類測試解決方案上沒有的關(guān)鍵規(guī)范驗(yàn)證測量功能。JEDEC DDR2和DDR3規(guī)范(JESD79-3C, JESD79-2E)規(guī)定，測量的通過/失敗極限，如建立時間和保持時間應(yīng)根據(jù)相關(guān)信號測得的轉(zhuǎn)換速率來作降低。現(xiàn)在， DDRA選件不僅提供了所需的轉(zhuǎn)換速率測量功能，還能夠計(jì)算額定值減少量，自動調(diào)節(jié)通過/失敗極限。DDRA及多種完善的探測解決方案相結(jié)合，包括日前推出的Nexus Technology公司的BGA內(nèi)插器，為從物理層角度驗(yàn)證和調(diào)試DDR設(shè)計(jì)提供了最完整的解決方案。
用于示波器和邏輯分析儀的最新BGA元件內(nèi)插器采用創(chuàng)新的插座式設(shè)計(jì)，可以簡便安裝在客戶電路板上，并能夠輕松改變存儲器元件，進(jìn)行檢定/余量測試，而不需要把電路板送到返修室，從而避免了中斷時間，有效縮短開發(fā)周期。內(nèi)插器的設(shè)計(jì)通過在距BGA球非常近的每條信號線上均采用嵌入式100歐姆電阻器，可提供無可比擬的信號保真度。在與泰克P7500系列 Tri-Mode探頭及Nexus產(chǎn)品或TLA7000系列邏輯分析儀專用的新型焊接探頭前端一起使用時，內(nèi)插器便成為探測系統(tǒng)的一部分，可以以高達(dá)1600MT/s及更高的數(shù)據(jù)速率準(zhǔn)確地采集信號。
“隨著DDR3存儲器設(shè)計(jì)的尺寸不斷縮小、數(shù)據(jù)速率不斷提高，信號接入和探測已經(jīng)成為每個存儲器設(shè)計(jì)人員的一項(xiàng)關(guān)鍵任務(wù)。” Nexus Technology公司總裁Robert Shelsky說，“最新推出的存儲器元件內(nèi)插器在安裝和使用的簡便性方面為設(shè)計(jì)工程師提供了最佳的整體體驗(yàn)。新內(nèi)插器有助于加快DDR3存儲器元件的模擬檢定、數(shù)字調(diào)試和協(xié)議檢驗(yàn)速度，幫助工程師更快地將自己的設(shè)計(jì)推向市場。”
存儲器系統(tǒng)性能的提升，導(dǎo)致了設(shè)計(jì)復(fù)雜程度的不斷提高，因而需要使用杰出的驗(yàn)證和測試工具。泰克由示波器、邏輯分析儀、探頭和配套軟件組成的業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的DDR測試套件，為工程師提供了一套全新的產(chǎn)品系列，涵蓋了業(yè)內(nèi)最優(yōu)秀的功能，幫助其開發(fā)運(yùn)用最新DDR技術(shù)的下一代產(chǎn)品。
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