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論如何降低48V輕混汽車系統(tǒng)中的噪聲輻射

發(fā)布時(shí)間:2022-07-25 來源:意法半導(dǎo)體 責(zé)任編輯:wenwei

【導(dǎo)讀】全球汽車市場當(dāng)今的銷售趨勢仍是傳統(tǒng)燃油車占比約80%,其余的20%都被包括各類混動(dòng)汽車和電動(dòng)汽車在內(nèi)的新能源汽車所占據(jù),輕混動(dòng)力汽車是其中最重要的細(xì)分市場之一。


事實(shí)上,輕混動(dòng)力平臺(tái)已經(jīng)是一個(gè)具體的傳統(tǒng)汽車架構(gòu)替代解決方案,因?yàn)檩p混系統(tǒng)滿足了對更大動(dòng)力儲(chǔ)備的需求,同時(shí)可以降低動(dòng)力系統(tǒng)總體成本。輕混系統(tǒng)有以下優(yōu)勢:


●   集成了驅(qū)動(dòng)電機(jī),停車后起步加速更快;

●   幫助啟停系統(tǒng)提高燃油效率;

●   渦輪增壓系統(tǒng)降低尾氣排放;

●   在保養(yǎng)維修和發(fā)生故障時(shí),比高壓總線解決方案更安全


在STPOWER STripFET 80V-100V功率晶體管中,F(xiàn)7系列已經(jīng)取得AEC-Q101車規(guī)產(chǎn)品認(rèn)證,新的車規(guī)產(chǎn)品已進(jìn)入原型開發(fā)階段。STripFET功率晶體管的開關(guān)性能和能效都很出色,魯棒性足以滿足所有車用要求,是解決 48V-12V DC-DC 功率轉(zhuǎn)換器高頻輻射抗擾度問題的正確之選。


輕混架構(gòu)中的 DC-DC轉(zhuǎn)換


在輕混汽車上,DC-DC轉(zhuǎn)換器將48V鋰電池儲(chǔ)存的部分電能轉(zhuǎn)移到12V鉛酸電瓶中,使12V鉛酸電池保持充電狀態(tài),同時(shí)給低功耗負(fù)載和信息娛樂系統(tǒng)供電。該轉(zhuǎn)換器還支持電流雙向流動(dòng),在某些情況下,12V電瓶可以對48V鋰電池充電,在汽車拋錨時(shí)驅(qū)動(dòng)汽車到達(dá)最近的汽修廠。


該轉(zhuǎn)換器的常見技術(shù)規(guī)格如下:


降壓模式下輸出功率為2kW至3.3kW,升壓模式下輸出功率最高1.5kW;


●   輸出電流約 250A;

●   12V - 14V 輸出電壓;

●   輸入電壓 24V 到 56V;

●   能效高于93%。


圖1所示是多相 DC-DC 降壓轉(zhuǎn)換器的原理圖。


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圖1:多相 DC-DC 降壓轉(zhuǎn)換器的原理圖


DC-DC轉(zhuǎn)換器一個(gè)電源模塊,組件包括:


●   MOSFET半橋(HB)和柵極驅(qū)動(dòng)器,柵極驅(qū)動(dòng)器帶有一個(gè)用于電流檢測的內(nèi)部比較器;


●   48V鋰電池高壓安全開關(guān),在發(fā)生故障時(shí),保護(hù)電驅(qū)系統(tǒng),斷開系統(tǒng)與鋰電池的連接;該開關(guān)通常是由幾個(gè)80V MOSFET并聯(lián)而成,該開關(guān)要選擇裸片尺寸大、低靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻(RDS(on))和高電流處理能力的開關(guān)管;


●   低壓安全開關(guān),用于斷開系統(tǒng)與12V電瓶的連接,是由幾個(gè)并聯(lián)支路組成,包括兩個(gè)背靠背配置的導(dǎo)通電阻(RDS(on))非常低的40V MOSFET開關(guān)管;


●   控制器,根據(jù)負(fù)載水平負(fù)責(zé)各相之間同步、激活和調(diào)節(jié),在相轉(zhuǎn)換發(fā)生危險(xiǎn)時(shí),關(guān)閉系統(tǒng) ;


●   為單相過流事件和因電池?cái)嚅_而引起的輸出過壓現(xiàn)象提供更多保護(hù)。


在這種拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)中,上橋臂(HS) MOSFET經(jīng)過了優(yōu)化設(shè)計(jì),可以提高轉(zhuǎn)換器的開關(guān)性能,降低噪聲輻射,從而改善轉(zhuǎn)換器在輕負(fù)載下的能效,而下橋臂(LS) MOSFET也經(jīng)過了優(yōu)化設(shè)計(jì),可以最大限度地降低導(dǎo)通損耗,從而提高轉(zhuǎn)換器在高負(fù)載時(shí)的能效。


因此,48V-12V DC-DC轉(zhuǎn)換器中上下橋臂MOSFET的主要特性可以總結(jié)如下:


●   漏源擊穿電壓(BVDSS)在 80V 到 100V之間;

●   柵極閾值電壓(VGS(th))是標(biāo)準(zhǔn)電壓;

●   上橋臂MOSFET靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻(RDS(on))低于7.0mΩ,下橋臂低于3.5mΩ;

●   上橋臂MOSFET的總柵極電荷(QG)非常低;

●   下橋臂MOSFET 的反向恢復(fù)電荷 (Qrr)較低;

●   意法半導(dǎo)體的 PowerFLAT 5x6 封裝用于并聯(lián)多個(gè)MOSFET開關(guān)管,而H2PAK 封裝(2根引線或6根引線)用于單個(gè)開關(guān)管。


上橋臂 MOSFET 的開關(guān)損耗 (PSW) 用以下公式(公式1)計(jì)算:


27.jpg (1)


其中:


VIN是DC-DC轉(zhuǎn)換器的輸入電壓;


       IOUT 是負(fù)載電流 ;


       fSW是轉(zhuǎn)換器的開關(guān)頻率;


QG,SW = Qgd + Qgs是導(dǎo)通MOSFET 所需的電荷量(是柵漏電荷 Qgd 和柵源電荷 Qgs 之和);


       IGATE 是MOSFET的柵極電流。


下橋臂MOSFET的導(dǎo)通損耗(PCOND)用以下公式(公式2)計(jì)算:


28.jpg (2)


其中:


RDSon[T] 是 MOSFET 在工作溫度 T 時(shí)的導(dǎo)通電阻 ;


       ID 為MOSFET漏極電流;


       D是轉(zhuǎn)換器的占空比。


最小化開關(guān)損耗與優(yōu)化導(dǎo)通損耗之間的最佳折衷方案是下橋臂MOSFET選擇低導(dǎo)通電阻(RDS(on))的開關(guān)管,上橋臂MOSFET選擇低柵漏電荷(Qgd)的開關(guān)管,這種權(quán)衡考慮對提升系統(tǒng)能效和抑制電磁干擾(EMI)噪聲輻射有很大的影響。


實(shí)驗(yàn)結(jié)果


與上一代產(chǎn)品相比,STPOWER STripFET F7系列車規(guī)80V - 100V MOSFET改進(jìn)了米勒效應(yīng)敏感度和電容比(Crss / Ciss)軟度,如圖2所示。


29.jpg

圖 2. F7 系列和上一代產(chǎn)品的電容比波形軟度比較


在續(xù)流階段,MOSFET的漏源電壓(VDS)被固定在體漏二極管的正向?qū)妷?VDS)。在瞬態(tài)關(guān)斷時(shí),VDS電壓增加,此時(shí)電容比起關(guān)鍵作用。由于在幾乎VDS = 0V時(shí),電容比下降趨勢柔和舒緩,而且初始值低,Crss/Ciss比值可以適度抵抗米勒效應(yīng),并且還有助于最小化MOSFET的亞閾值導(dǎo)通,降低對EMI的敏感度。


產(chǎn)生EMI輻射的主要因素與體漏極二極管的反向恢復(fù)電荷及其在回彈中的軟度有關(guān)(圖3)。


30.jpg

圖3:F7 MOSFET體二極管的測量波形


實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)表明,STripFET F7 MOSFET的體漏二極管回零電流波形非常柔和,僅產(chǎn)生幾次振蕩,從而限制了高頻輻射。


此外,采用新技術(shù)制造的車規(guī)80V - 100V MOSFET原型具有良好的開關(guān)性能, VDS電壓尖峰波形平滑,振蕩時(shí)間非常短。圖4所示是輕混系統(tǒng)的DC-DC轉(zhuǎn)換器的下橋臂MOSFET和上橋臂MOSFET在fsw = 250kHz時(shí)測得的開關(guān)波形。


31.jpg

圖4:新的下橋臂MOSFET原型和上橋臂MOSFET原型的開關(guān)波形


上圖顯示,下橋臂MOSFET中  VDS最大尖峰電壓僅為52V(深藍(lán)色線),使用新型MOSFET的DC-DC轉(zhuǎn)換器的實(shí)測能效達(dá)到94%,如下所示(圖5)。


32.jpg

圖 5.使用新的MOSFET原型的DC-DC轉(zhuǎn)換器的測量能效


轉(zhuǎn)換器的能效還受到下橋臂MOSFET體漏極二極管反向恢復(fù)電荷的影響。流向體二極管的恢復(fù)電流即使高速變化(di/dt),新的演進(jìn)技術(shù)也能明顯改進(jìn)能效,如圖6中測量的恢復(fù)波形所示。


33.jpg

圖 6.新MOSFET原型的恢復(fù)電流測量波形。


實(shí)際流經(jīng)該二極管的電流是圖6所示的電流10倍,因?yàn)槭褂秒娏骰ジ衅鞑杉疘SD = 60A電流。


這種恢復(fù)電流還在很大程度上決定了轉(zhuǎn)換器的噪聲輻射速率,因?yàn)樵陔娏骰亓銜r(shí),恢復(fù)電流是振蕩引起的高頻噪聲的主要根源。近場噪聲輻射測量試驗(yàn)突出了新MOSFET原型的EMI抗擾度,并將噪聲輻射速率與F7系列器件進(jìn)行了比較。當(dāng)器件以大約15A的電流開關(guān)時(shí),半橋拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)中的下橋臂MOSFET實(shí)驗(yàn)噪聲輻射頻譜如圖7所示,上橋臂MOSFET實(shí)驗(yàn)噪聲輻射頻譜如圖8所示。


34.jpg

圖 7.下橋臂 F7和新MOSFET原型的測量噪聲輻射頻譜比較


35.jpg

圖 8. 上橋臂 F7系列和新MOSFET原型的測量噪聲輻射頻譜比較


兩張圖顯示在與應(yīng)用開關(guān)條件對應(yīng)的較低頻率下,噪聲輻射速率值較高,而在1MHz以上的較高頻率時(shí),上橋臂的新產(chǎn)品原型在相同的電路板和工作條件(開關(guān)頻率,電流和偏置電壓)下噪聲輻射速率略低與于同級F7器件。


結(jié)論


對于輕混動(dòng)力系統(tǒng),新產(chǎn)品原型改善了開關(guān)特性,降低了功率損耗,保證DC-DC轉(zhuǎn)換器的能效更高。此外,它們保留體漏二極管的良好性能不變,具有STripFET F7 MOSFET一樣的反向恢復(fù)電荷和軟度,有助于最大限度地減少高頻輻射,這是任何汽車電源轉(zhuǎn)換和電機(jī)控制拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)中理想的且廣泛認(rèn)可的特性之一。


參考文獻(xiàn)


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作者:Filippo Scrimizzi and Giusy Gambino, 意法半導(dǎo)體意大利Catania分公司



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