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TDK專家論道:電子系統(tǒng)EMI/EMC設(shè)計(jì)及相關(guān)元器件選擇

發(fā)布時(shí)間:2010-11-10 來源:TDK

TDK專家論道中心議題:

  • 電子系統(tǒng)EMI/EMC設(shè)計(jì)
  • 電子系統(tǒng)EMI/EMC相關(guān)器件選擇
  • EMI/EMC以及電波暗室

TDK專家論道解決方案:

  • 各類元器件應(yīng)確認(rèn)性能和EMC
  • 電波暗室被作為測(cè)試電磁波噪音場(chǎng)地


對(duì)于今天的電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)師來說,系統(tǒng)的EMI和EMC問題無法回避。解決此問題,需要設(shè)計(jì)師在電路設(shè)計(jì)上作出努力并采用合適的元器件進(jìn)行實(shí)現(xiàn)。TDK的EMI/EMC領(lǐng)域資深專家板垣一也部長(zhǎng),針對(duì)EMI/EMC以及電波暗室等熱點(diǎn)問題作出一系列的解答。 

電子元器件營(yíng)業(yè)部 技術(shù)業(yè)務(wù)推進(jìn)部部長(zhǎng)兼EMC業(yè)務(wù)部負(fù)責(zé)人

板垣一也

專家介紹:1981年加入TDK。2005年開始轉(zhuǎn)入EMC業(yè)務(wù)推進(jìn)部門并負(fù)責(zé)開展各項(xiàng)EMC解決方案提供活動(dòng)?,F(xiàn)任電子元器件營(yíng)業(yè)部 技術(shù)業(yè)務(wù)推進(jìn)部部長(zhǎng)兼EMC業(yè)務(wù)部負(fù)責(zé)人。 

 
問題1:消費(fèi)類設(shè)備尤其是移動(dòng)設(shè)備越做越小,電磁兼容問題越來越嚴(yán)重,請(qǐng)問專家在元器件選擇方面有哪些對(duì)策?

回答:是的,今后的移動(dòng)設(shè)備將加速向小型化、多功能、高性能化發(fā)展。因此,各項(xiàng)功能更加小型化,元器件同樣日趨小型化。這樣一來,安裝零部件的高密度化以及各元器件的高密度化在EMC中成為更困難的方向。因此,我認(rèn)為首先零部件自身必須使用可靠產(chǎn)品,各類元器件也應(yīng)當(dāng)充分確認(rèn)性能和EMC。面向小型化的趨勢(shì),我們TDK一方面致力于零部件自身的小型化,同時(shí)又通過陣列化提高安裝密度,提供符合實(shí)際要求的零部件。

當(dāng)然,由于難以與電源裝置完全分離,或由于高頻化的原因,噪聲可能向整體蔓延,還是會(huì)對(duì)設(shè)備整體的性能造成不良影響,這時(shí)不單單是選擇合格的元器件,良好的設(shè)計(jì)也至關(guān)重要。

還有就是,例如小型移動(dòng)設(shè)備等,微型的機(jī)身匯集諸多功能,構(gòu)造也愈加復(fù)雜。而信號(hào)處理不但更為豐富多樣,而且也更為高速。這其中比較重要的是信號(hào)完整性問題(SI Signal Integrity),從EMC測(cè)定的角度而言,必須兼顧EMI(放射)及SI,在測(cè)定時(shí)應(yīng)當(dāng)考慮兩方面的關(guān)系。為此,測(cè)定技術(shù)必須更加高級(jí),且測(cè)定環(huán)境(電波暗室、測(cè)定設(shè)備等)也必須確保充分的性能。 
 
問題2:在EMC設(shè)計(jì)方面,現(xiàn)在有很多EDA的設(shè)計(jì)工具可以使用,但是好像又不知該如何下手,請(qǐng)問專家有什么建議?

回答:是的,電路板設(shè)計(jì)中的EMC設(shè)計(jì),已經(jīng)有了大量的各類設(shè)計(jì)工具(SPICE系列設(shè)計(jì)工具、EMC設(shè)計(jì)檢查、磁場(chǎng)分析等),關(guān)鍵是如何有效利用這些工具。而如何正確選擇和使用零部件則是重中之重,因此必須擁有零部件的模型數(shù)據(jù)。TDK從這些設(shè)計(jì)階段即開始提供全方位支持,打造EMC整體解決方案。在Web上提供回路模擬用電子零部件模型(TVCL)、零部件特性觀測(cè)器(CCV)以及可以進(jìn)行簡(jiǎn)易波形模擬的零部件特性分析軟件(SEAT)。此外,對(duì)于實(shí)際的設(shè)計(jì),TDK既積累了豐富的經(jīng)驗(yàn),又擁有從電波暗室到超小型零部件的獨(dú)有技術(shù),也一直在為用戶提供和分享這些經(jīng)驗(yàn)和技術(shù)。同時(shí),TDK積極致力于新技術(shù)的研究,并且提供基于專有技術(shù)的設(shè)計(jì)建議,已經(jīng)為多數(shù)用戶所采用。 
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問題3:汽車環(huán)境、醫(yī)療電子設(shè)備對(duì)EMC有什么特殊要求?

汽車和醫(yī)療設(shè)備及器具常常直接關(guān)系到人身安全,其安全性經(jīng)過了完全周到的考慮。在國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中,尤其是對(duì)故障的限制方面,有著非常嚴(yán)格的內(nèi)容。汽車的電子控制系統(tǒng)(ECU)和車內(nèi)信息通信等,日趨走向電氣化。毫無疑問,它們將更易受到內(nèi)外電氣環(huán)境的影響,而因EMS(抗干擾)變得更為重要。醫(yī)療設(shè)備和器具方面,隨著尖端醫(yī)療技術(shù)的發(fā)展以及人們對(duì)健康的關(guān)注度提高,預(yù)計(jì)健康器具的需求將會(huì)進(jìn)一步增加。醫(yī)療設(shè)備和器具的故障可能直接危及生命,因此在EMC(EMS)方面做了非常慎重的研究。針對(duì)這些問題,我認(rèn)為零部件的可靠性是第一位的。EMC的零部件如果先損壞,就失去意義了。醫(yī)療設(shè)備也同樣如此。針對(duì)于此,TDK推出了一系列抑制輸入浪涌的能力很強(qiáng)的產(chǎn)品。同時(shí)在測(cè)定方面,建立了公司內(nèi)部評(píng)估技術(shù)的專有技術(shù),提供給廣大用戶。 
 
問題4:能否介紹一下使用“電波暗室”進(jìn)行EMC/EMI測(cè)試的過程和原理?

由電子產(chǎn)品輻射出的電磁波噪音越來越多地影響到其他電子產(chǎn)品,并且電磁波噪音問題已日趨嚴(yán)重?!EC/CISPR等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定電子產(chǎn)品所輻射的干擾電磁波不能超出其相關(guān)的規(guī)定值。

電波暗室被作為測(cè)試電子產(chǎn)品的電磁波噪音的場(chǎng)地而被充分利用。電波暗室是將室內(nèi)外的電磁波進(jìn)行屏蔽,并在暗室內(nèi)安裝上吸波材料以衰減室內(nèi)電磁波的反射,從而創(chuàng)造出測(cè)試電子產(chǎn)品的試驗(yàn)環(huán)境。在電波暗室內(nèi)部,安裝了供被測(cè)物體旋轉(zhuǎn)的轉(zhuǎn)臺(tái)和接收干擾電磁波并可以上下升降的天線塔。利用天線上下掃描來接收被測(cè)物體輻射出的干擾電磁波以測(cè)試其電場(chǎng)強(qiáng)度。

接收天線放置在距離被測(cè)物體10m或3m的位置,將被測(cè)物體放置于轉(zhuǎn)臺(tái)上進(jìn)行360度的旋轉(zhuǎn),利用天線接收被測(cè)物輻射出的干擾電磁波并計(jì)算出其電場(chǎng)強(qiáng)度的最大值。另外,為了接收到干擾電磁波的最大值,將天線從1m到4m高度進(jìn)行上下掃描,同時(shí)改變天線的水平和垂直極化,以計(jì)算出干擾電磁波的最大值。利用這個(gè)測(cè)試以確認(rèn)各個(gè)頻段的電場(chǎng)強(qiáng)度的最大值是否不超過EMI標(biāo)準(zhǔn)中的規(guī)定。

關(guān)于詳細(xì)的測(cè)試方法,根據(jù)EMI標(biāo)準(zhǔn)的不同,其規(guī)定的測(cè)試方法也有所不同。 
 
問題5:TDK在“電波暗室的”建設(shè)上投入很多,目前在中國(guó)哪些地方建設(shè)了電波暗室?可以為客戶提供何種服務(wù)?只要和EMC相關(guān)的測(cè)試都可以做嗎?是否需要費(fèi)用,費(fèi)用是多少?

TDK公司在中國(guó)地區(qū)已經(jīng)為像NIM(中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院)這樣的國(guó)家級(jí)計(jì)量單位,以及各個(gè)電子產(chǎn)品制造商,汽車制造商,醫(yī)療產(chǎn)品制造商等建造了很多間電波暗室。TDK公司正在為客戶提供電波暗室的設(shè)計(jì)建造,測(cè)試系統(tǒng)的集成,EMC整改對(duì)策用元器件的生產(chǎn),EMC中心的測(cè)試服務(wù),舉辦EMC研討會(huì)等Total EMC Solution 服務(wù)。TDK在蘇州和東莞的工廠內(nèi)擁有EMC中心,為中國(guó)客戶提供完善的EMC測(cè)試等服務(wù)。 

問題6:報(bào)道說,TDK正在日本千葉建設(shè)一個(gè)最新水準(zhǔn)的電波暗室,請(qǐng)問這個(gè)電波暗室的先進(jìn)之處在哪里,和以往的電波暗室有何不同?是因?yàn)槟壳暗碾姴ò凳也荒軡M足一些測(cè)試需要才建設(shè)的嗎?

電波暗室性能的好壞是通過各種特性來衡量的,其中NSA(Normalized Site Attenuation)歸一化場(chǎng)地衰減是衡量電波暗室性能的一個(gè)環(huán)節(jié)。這次,TDK公司建設(shè)的10m法電波暗室的NSA(Normalized Site Attenuation)歸一化場(chǎng)地衰減達(dá)到了世界一流水平的±1.5dB以內(nèi),這使得我們實(shí)現(xiàn)了高精度的EMC測(cè)試。

另外,從導(dǎo)入被測(cè)物進(jìn)出時(shí)無高度差的全自動(dòng)屏蔽門,到各種使用方便的優(yōu)異的測(cè)試設(shè)備,我們能夠?yàn)榭蛻籼峁┓浅3錾臏y(cè)試環(huán)境。

※Site Attenuation是指在特定的測(cè)試場(chǎng)地內(nèi),用特定的測(cè)試方法測(cè)試出的發(fā)射和接收天線間的電磁波衰減特性。Site Attenuation的實(shí)際測(cè)試值和Site Attenuation的理論計(jì)算值相比較,其差異越小,電波暗室的性能越高。 
 

 

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