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正負(fù)脈沖電源用雙重保護(hù)電路的研究

發(fā)布時(shí)間:2010-10-25 來(lái)源:現(xiàn)代電子技術(shù)

中心議題:

  • 針對(duì)正負(fù)脈沖電源中對(duì)IGBT保護(hù)的要求
  • 保護(hù)電路的控制電路

正負(fù)脈沖電源的解決方案:

  • 雙重保護(hù)控制電路

摘 要:針對(duì)正負(fù)脈沖電源中對(duì)IGBT保護(hù)的要求,提出并分析了一種廉價(jià)而簡(jiǎn)潔的、適用于各種保護(hù)電路的控制電路,給出了設(shè)計(jì)時(shí)需要注意的問(wèn)題。該控制電路對(duì)于實(shí)際操作中可能遇到的過(guò)載、瞬時(shí)過(guò)流、短路等現(xiàn)象能進(jìn)行很好的監(jiān)測(cè)和控制。

在材料保護(hù)領(lǐng)域,等離子體表面處理、陽(yáng)極氧化、微弧氧化、脈沖電鍍等新技術(shù)正在國(guó)內(nèi)興起。工業(yè)生產(chǎn)需要的特種電源以大功率正負(fù)脈沖電源為先進(jìn)的一種。電源的研制過(guò)程中,絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)始終是功率開(kāi)關(guān)器件的首選。他集MOSFET的輸入阻抗高、驅(qū)動(dòng)容易、開(kāi)關(guān)速度快、無(wú)二次擊穿和GTR的通態(tài)壓降低、高壓大電流化容易等優(yōu)點(diǎn)于一體,是目前脈沖電源中的主要功率開(kāi)關(guān)器件。IGBT的可靠工作是脈沖電源可靠工作的基礎(chǔ),在對(duì)IGBT的保護(hù)中,過(guò)流保護(hù)是關(guān)鍵技術(shù)之一,脈沖電源能否穩(wěn)定、可靠地工作,很大程度上取決于過(guò)流檢測(cè)保護(hù)電路設(shè)計(jì)的優(yōu)劣。

1 典型控制方案

1.1 IGBT的失效機(jī)理

IGBT在短路和過(guò)流時(shí),如不迅速加以保護(hù)就會(huì)導(dǎo)致器件失效,其主要原因有:超過(guò)熱極限、發(fā)生擎住效應(yīng)、器件過(guò)壓擊穿等。

(1)超過(guò)熱極限 器件短路時(shí)的功耗將導(dǎo)致器件芯片溫度迅速上升。若溫度超過(guò)250℃,由于芯片材料硅的本征化將會(huì)導(dǎo)致IGBT迅速熱擊穿而損壞。

(2)發(fā)生擎住效應(yīng) IGBT結(jié)構(gòu)上存在寄生晶閘管,在極大的短路電流下關(guān)斷IGBT時(shí)極易發(fā)生動(dòng)態(tài)擎住導(dǎo)致器件損壞。

(3)器件過(guò)壓擊穿 大電流下關(guān)斷IGBT時(shí)極大的dI/dt在回路電路中產(chǎn)生的關(guān)斷電壓尖峰有可能使IGBT因雪崩擊穿而損壞。

1.2 IGBT的特性曲線

 IGBT短路時(shí)的輸出特性

圖1是IGBT短路時(shí)的輸出特性。他說(shuō)明IGBT的短路電流Isc隨電源電壓VCC增加而增加,同時(shí)也隨柵極驅(qū)動(dòng)電壓VGE增加而增加,因此柵極驅(qū)動(dòng)電壓VGE的幅值不宜過(guò)大。

IGBT的允許短路時(shí)間tSC

圖2是IGBT的允許短路時(shí)間tSC,短路電流Isc與柵極驅(qū)動(dòng)電壓的關(guān)系,由圖2可知,當(dāng)IGBT短路時(shí),及時(shí)減小VGE可以使ISC減小和延長(zhǎng)。

IGBT的飽和導(dǎo)通壓降VCES和集電極電流Ic的關(guān)系
 

圖3是IGBT的飽和導(dǎo)通壓降VCES和集電極電流Ic的關(guān)系。該圖表明,VCES和Ic近似成線性關(guān)系,因此,可以通過(guò)檢測(cè)集電極電位來(lái)判斷IGBT是否過(guò)流。

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1.3 常用檢測(cè)電路

根據(jù)以上IGBT的3個(gè)特性曲線,利用通過(guò)檢測(cè)集電極飽和壓降來(lái)判斷IGBT是否過(guò)流這一原理,可以派生出很多檢測(cè)電路。其中較為常見(jiàn)的電路如圖4所示[1]。

VCC檢測(cè)電路

此電路由一比較器實(shí)現(xiàn)。圖4中D為高反壓快速恢復(fù)二極管,電位器W用于調(diào)整V+。當(dāng)管子正常導(dǎo)通不過(guò)流時(shí),Vce+Vd(Vd為二極管D的正向?qū)▔航?低于V+,比較器輸出高電平;當(dāng)發(fā)生過(guò)流時(shí),Ic急劇增加,使 Vce上升很多,有Vce+Vd高于V+,比較器輸出低電平,通過(guò)光耦產(chǎn)生過(guò)流保護(hù)信號(hào)(低電平有效)。

雖然通過(guò)檢測(cè)其集電極電壓來(lái)判斷IGBT工作電流是否過(guò)大的方法最直接,但在電路設(shè)計(jì)時(shí)遇到2個(gè)問(wèn)題:

(1)IGBT通態(tài)時(shí),Vce只有幾伏電壓,IGBT關(guān)斷時(shí),Vce卻有幾百伏電壓,相差如此大的檢測(cè)信號(hào)怎樣協(xié)調(diào)統(tǒng)一。因檢測(cè)電路直接與控制電路相連,所以不希望有強(qiáng)電信號(hào)進(jìn)入,以免干擾和沖擊控制電路。

(2)由于IGBT管在快速大電流能斷狀態(tài)下工作,要求檢測(cè)電路輸入阻抗高,輸入電容小。鑒于以上兩點(diǎn),選擇舍棄通過(guò)檢測(cè)集電極電壓來(lái)判斷IGBT工作電流是否過(guò)大的方法,而考慮在主回路上直接進(jìn)行檢測(cè)。


2 雙重保護(hù)控制電路

2.1 主電路原理圖

主電路為載波電路,如圖5所示。

主電路原理圖

圖5中I1,I2為采樣電流,V1,V2為采樣電壓。I1,V1分別為正向電流和正向電壓;I2,V2分別為反向電流和反向電壓。


 2.2 控制系統(tǒng)原理圖控制電路如圖6所示。

控制系統(tǒng)原理圖控制電路

圖6中LM358為反向放大器,LM324為比較器,PT為保護(hù)電路的控制信號(hào)(高電平有效)。這里,比較器選擇的依據(jù)是:由圖2中IGBT的驅(qū)動(dòng)?xùn)艍?VGE與Isc和允許過(guò)流時(shí)間tsc的關(guān)系知,當(dāng)VGE=15 V時(shí),該器件承受250 A的過(guò)流沖擊時(shí)間僅為5μs。如果在過(guò)流開(kāi)始時(shí),將柵壓降低到10 V,則承受過(guò)流的時(shí)間可延長(zhǎng)到15μs,并且過(guò)流幅值也由原來(lái)的250 A下降到100 A。當(dāng)然,由于VGE的降低,將導(dǎo)致IGBT導(dǎo)通壓降升高,這將使管子的瞬時(shí)熱損耗急劇增大。為了防止熱損壞,這個(gè)時(shí)間應(yīng)足夠短,不允許因此而引起熱損壞。事實(shí)上,過(guò)流保護(hù)電路的整個(gè)響應(yīng)時(shí)間通常小于10μs。因此,選用廉價(jià)的LM324基本可以滿足設(shè)計(jì)要求,他的具體指標(biāo)如下:?jiǎn)坞娫垂╇姡ぷ麟妷?3~ 30 V,輸入失調(diào)電壓低于5 mV,輸入到輸出傳輸時(shí)延5μs,100 dB帶寬大于1 MHz。

2.3 實(shí)現(xiàn)功能

這里以反向采樣電流I2這一支路為例進(jìn)行說(shuō)明?!?/p>

采樣電流I2經(jīng)LM358反向放大后在1腳輸出,這里分別記LM358的管腳1,2,3,5,6的電壓為V1,V2,V3,V5,V6,從圖中顯然有V1=V2=V6。這里V3為瞬時(shí)過(guò)流保護(hù)控制點(diǎn),V5為持續(xù)過(guò)流保護(hù)控制點(diǎn)。

當(dāng)V2<V3時(shí),即沒(méi)有過(guò)流信號(hào)出現(xiàn),此時(shí)比較器1腳,7腳輸出高電平,D1,D2截止,控制電路不工作?! ?/p>

當(dāng)V3<V2<V5時(shí),即有瞬時(shí)過(guò)流信號(hào)出現(xiàn),比較器1腳輸出低電平,7腳仍是高電平,D1導(dǎo)通,D2截止,即只有第一級(jí)比較起作用,此時(shí),Q1,Q5導(dǎo)通,LED發(fā)光,PT為高電平,啟動(dòng)保護(hù)電路。在這種情況下,主回路每瞬時(shí)過(guò)流一次,LED便亮一下,而后熄滅。也就是說(shuō),當(dāng)過(guò)流信號(hào)介于比較點(diǎn)V3和 V5之間時(shí),可以實(shí)現(xiàn)過(guò)流一次保護(hù)一次的功能。
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當(dāng)V2>V5時(shí),即有持續(xù)過(guò)流信號(hào)出現(xiàn)(如短路時(shí)),比較器 1,7腳為低電平,D1,D2導(dǎo)通,兩級(jí)比較都起作用,但起決定性作用的還是第2級(jí)比較。因?yàn)镼2,Q3組成可控硅式結(jié)構(gòu),當(dāng)D2導(dǎo)通后,相當(dāng)于給“可控硅”一個(gè)觸發(fā)信號(hào),Q3馬上導(dǎo)通,緊接著Q2也導(dǎo)通,則有LED發(fā)光,PT為高電平。此時(shí),即便取樣電流I2恢復(fù)正常,D1,D2截止,但Q3與Q2仍是導(dǎo)通的,LED一直發(fā)光,PT一直處于高電平狀態(tài)。這也就是說(shuō),當(dāng)過(guò)流信號(hào)大于短路電流保護(hù)控制點(diǎn)V5時(shí),可以實(shí)現(xiàn)短路后長(zhǎng)期保護(hù)的功能。

控制電路中D4的作用是:由于PT外接保護(hù)電路,電路中的導(dǎo)線上存在著分布電感,而分布電感上的電流又會(huì)反向加在Q2,Q3上,導(dǎo)致Q2,Q3的損壞,故在此加上一個(gè)二極管,緩解導(dǎo)線分布電感上電流對(duì)開(kāi)關(guān)的沖擊。

當(dāng)檢測(cè)到瞬時(shí)過(guò)流信號(hào)時(shí),可以通過(guò)延時(shí)關(guān)斷一個(gè)周期的驅(qū)動(dòng)信號(hào),隨后恢復(fù)之,進(jìn)行保護(hù);當(dāng)檢測(cè)到短路信號(hào)時(shí),可以通過(guò)慢降柵壓技術(shù)[4]來(lái)關(guān)斷IGBT,從而進(jìn)行保護(hù)。對(duì)于正向取樣電流I1工作原理的分析與反向電流I2相同,在此不加贅述。

 2.4 需要注意的問(wèn)題

(1)電路中要求放大器LM358放大100~200倍,并且他存在失調(diào)電壓,通常是10 mV左右,而待放大的信號(hào)也是很微弱的,一般情況下有幾十個(gè)mV,但不能排除輸入信號(hào)低于10 mV的情況。當(dāng)這種情況發(fā)生時(shí),可以在放大前先給輸入信號(hào)疊加一個(gè)10 mV左右的信號(hào)以抵消失調(diào)電壓的影響。如果實(shí)際應(yīng)用中需要穩(wěn)定性更好、精度更高、放大倍數(shù)更大的放大器,則可將LM358換成有正負(fù)電源供電的 TL082。

(2)在實(shí)際應(yīng)用中,發(fā)現(xiàn)比較器LM324的響應(yīng)速度還是不理想的,對(duì)于頻率更高,功率更大的脈沖電源,建議使用 NJU7119(單電源CMOS比較器,工作電壓1.8~5.5 V,工作電流100 mA,輸出能驅(qū)動(dòng)TTL,CMOS和各種電壓電平,輸入失調(diào)電壓低于7 mV,傳輸延遲時(shí)間(tplh/tphl)為160/70 ns)或AD53519(雙超快電壓比較器,有很強(qiáng)的輸入保護(hù),輸入到輸出傳輸時(shí)延300 ps,差分ECL兼容輸出,差分鎖存控制,3.0 dB帶寬大于2.5 GHz,輸出端上升/下降時(shí)間為150 ps)。

(3)Q1和Q3的基極和發(fā)射極間的電阻選取很重要,也就是R3和 R22的阻值是嚴(yán)格要求的,他們和比較點(diǎn)輸出電壓(如LM324的1腳和7腳)有密切聯(lián)系。因?yàn)楸容^器和三極管的供電電壓是一樣的,而電路要求比較器輸出的高電平VH與二極管管壓降之和一定要大于Q1和Q3的基極電壓VB,即:VH+VD>VB,所以可以根據(jù)實(shí)際需要來(lái)選擇R3和R22的大小。

3 實(shí)驗(yàn)與結(jié)論

在本所自行研制的30 kW微弧氧化用正負(fù)脈沖電源中,此控制電路起到了很好的監(jiān)測(cè)和控制作用,對(duì)于瞬時(shí)過(guò)流和短路情況的發(fā)生,都能給予及時(shí)的識(shí)別和相應(yīng)的保護(hù)。經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的運(yùn)行和現(xiàn)場(chǎng)工藝的特殊要求,本設(shè)備完全能夠應(yīng)付各種過(guò)流現(xiàn)象的產(chǎn)生,確保電源安全可靠工作。

本文介紹的避開(kāi)檢測(cè)集電極電位來(lái)判斷IGBT是否過(guò)流的方法,改用直接檢測(cè)主回路分流器上電流來(lái)判斷和控制過(guò)流,實(shí)現(xiàn)電路簡(jiǎn)單,成本低,可靠性高,動(dòng)態(tài)性能好,已用于脈沖電源的控制單元。

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